Зображення обкладинки

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2011
Автори:	I. L. Shulpina, R. N. Kyutt, V. V. Ratnikov, I. A. Prokhorov, Zh. Bezbakh, M. P. Shcheglov
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2011
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349431
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)

X-ray dosimetry of copper-doped CdGa2S4 single crystals
за авторством: S. N. Mustafaeva, та інші
Опубліковано: (2012)

Features of tensoresistance in single crystals of germanium and silicon with different dopants
за авторством: P. I. Baranskii, та інші
Опубліковано: (2016)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

Boron-doped diamond single crystals for probes of the high-vacuum tunneling microscopy
за авторством: A. P. Chepugov, та інші
Опубліковано: (2013)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

High-pressure-induced relaxation of electrical resistance of low-doped NoBa2Cu3O7–x single crystals
за авторством: Ja. Khadzhaj, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

Single-photon superradiance in a single-crystal semiconductor film in the saturation mode
за авторством: A. G. Moiseev, та інші
Опубліковано: (2018)

Migration-enhanced energy transfer from host to dopant in Sr₂CeO₄:Eu crystal
за авторством: Masalov, A.A., та інші
Опубліковано: (2008)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Detectors based on Cd(Zn)Te semiconductors for x-ray and gamma radiation registration
за авторством: S. M. Levytskyi
Опубліковано: (2020)

X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

High-sensitivity X-ray TV systems based on X-ray screens and CCD cameras with image accumulation
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2009)

The study of the influence of X-ray irradiation on dislocation characteristics in LiF crystals
за авторством: Petchenko, О.M., та інші
Опубліковано: (2021)

Electronic structure and x-ray magnetic circular dichroism of Mn-doped TiO2
за авторством: L. V. Bekenov, та інші
Опубліковано: (2015)

Effect of praseodymium doping on electroresistivity along c-axis in Y₁₋xPrxBa₂Cu₃O₇₋δ single crystals
за авторством: Vovk, R.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Lifshitz topological transitions induced by doping and deformation in single-crystal Bi wires
за авторством: A. A. Nikolaeva, та інші
Опубліковано: (2017)

A dosimetry technique of high-energy X-ray in MGy range
за авторством: Rogov, Ju.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Notes on coherent polarization X-ray radiation by relativistic electrons in a crystal
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2019)

X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure
за авторством: V. G. Udovitskij
Опубліковано: (2003)

Microdetector system for speedy X-ray studies
за авторством: O. S. Kovalchuk, та інші
Опубліковано: (2016)

Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

Synergy of polyaniline and dopant action in corrosion protection of mild steel
за авторством: M. O. Ogurtsov
Опубліковано: (2012)

Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)

Research of the elastic wave velocity dispersion in X-ray-irradiated LiF crystals
за авторством: G. O. Petchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Research of the elastic wave velocity dispersion in X-ray-irradiated LiF crystals
за авторством: H. O. Petchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals
за авторством: A. N. Drozdov, та інші
Опубліковано: (2009)