Buchumschlag

Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and sathodoluminescence in Si/SiO2 structure

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2011
Hauptverfasser:	L. P. Steblenko, O. V. Koplak, I. I. Syvorotka, V. S. Kravchenko
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2011
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349747
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Institution

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Ähnliche Einträge

Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure
von: Steblenko, L.P., et al.
Veröffentlicht: (2011)

The Influence of Plastic Deformation on the Defect-Impurity State and Magnetic Properties of Silicon (Cz-Si)
von: V. A. Makara, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Electron states at the Si–SiO₂ boundary (Review)
von: Primachenko, V.E., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Микроскопическая природа оптических центров Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅, Lu₂SiO₅, Gd₂SiO₅
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Селективная спектроскопия примесных ионов Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅ , Gd₂SiO₅ , Lu₂SiO₅
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Проявление квазисимметрии катионных узлов Gd₂SiO₅, ₂SiO₅ и Lu₂SiO₅ в спектрах примесного иона Pr³⁺
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
von: Bacherikov, Yu.Yu., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Роль поверхности в формировании свойств пирогенных нанокомпозитов SiO₂-Al₂O₃, SiO₂-ТіO₂ и Al₂O₃-SiO₂-ТіO₂
von: Горбик, П.П., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
von: Yu. Yu. Bacherikov, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Modification of radiation defects in Si and Ge by background impurity
von: A. P. Dolgolenko
Veröffentlicht: (2013)

Дослідження взаємодії еритроцитів з пірогенними оксидами SiO2, Al2O3/SiO2 та TiO2/SiO2 шляхом вимірювання параметрів світлорозсіювання
von: Gerashchenko, I. I., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Properties of SiO₂-GaAs and Au-Ti-SiO₂-GaAs structures used in production of transmission lines
von: Boltovets, N.S., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Modification of properties of the glass-Si₃N₄-Si-SiO₂ structure at laser treatment
von: Konakova, R.V., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Electron transport through nanocomposite SiO₂(Si) films containing Si nanocrystals
von: Bratus, O.L., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
von: Yatsunskiy, I.R., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Water bounding peculiarities in SiO2 / laevomycetin and SiO2 / laevomycetin / AM1 composite systems
von: T. V. Krupskaja, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
von: V. V. Kuryliuk, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
von: V. V. Kuryliuk, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Особенности связывания воды в композитних системах SiO₂ / левомицетин и SiO₂ / левомицетин / АМ1
von: Крупская, Т.В., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Effect of pressure on the properties of Al-SiO₂-n-Si<Ni> structures
von: Vlasov, S.I., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin ﬁlms
von: Plyaka, S.N., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Electron transport through nanocomposite SiO2(Si) films containing Si nanocrystals
von: O. L. Bratus, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field
von: Trachevsky, V.V., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field
von: V. V. Trachevsky, et al.
Veröffentlicht: (2010)

Relaxation of photodarkening in SiO-As₂(S,Se)₃ composite layers
von: Indutnyi, I.Z., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
von: Bortchagovsky, E.G., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO2 structure
von: I. R. Yatsunskiy, et al.
Veröffentlicht: (2010)

Thermal conductivity of argon–SiO₂ cryocrystal nanocomposite
von: Nikonkov, R.V., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Effect of pressure on the properties of Al SiO2 n-Si Ni structures
von: S. I. Vlasov, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Термодинамические свойства расплавов системы CaO–SiO₂
von: Гончаров, И.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Thermodynamic properties of melts of CaO-SiO2 system
von: I. A. Goncharov, et al.
Veröffentlicht: (2015)

Influence of changes in defect states on the properties of Si–Gd–O photocathode
von: P. V. Melnyk, et al.
Veröffentlicht: (2017)

Influence of changes in defect states on the properties of Si–Gd–O photocathode
von: P. V. Melnyk, et al.
Veröffentlicht: (2017)

Optical absorption of Bi₁₂SiO₂₀:Sn crystals
von: Panchenko, T.V., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Nontrivial phenomena in magnetic nanocomposites Co/Al2O3 and Co/SiO2
von: G. V. Lashkarev, et al.
Veröffentlicht: (2019)

Вторичные реакции этилена в синтезе Фишера–Тропша на Co/SiO2*Co(II)-, Co/SiO2*V(V)-и Co/SiO2*Zr(IV)-катализаторах
von: Якубович, М.Н., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures
von: Bacherikov, Yu.Yu., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
von: E. G. Bortchagovsky, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Эффекты переключения и памяти в МОП-структурах Al-SiO₂-Si
von: Искендер-заде, З.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si»
von: Кулинич, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2012)