Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
Збережено в:
| Дата: | 2011 |
|---|---|
| Автори: | T. P. Vladimirova, Ye. M. Kyslovs`kyy, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, O. V. Koplak, E. V. Kochelab |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2011
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349833 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
за авторством: Vladimirova, T.P., та інші
Опубліковано: (2011) -
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010) -
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010) -
Classification of microdefects in semiconducting silicon
за авторством: Talanin, V.I., та інші
Опубліковано: (2003) -
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)