$X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals$

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2011
Автори:	V. M. Pylypiv, B. K. Ostafiichuk, T. P. Vladimirova, Ye. M. Kyslovskyi, V. B. Molodkin, S. Y. Olikhovskyi, O. V. Reshetnyk, O. S. Skakunova, S. V. Lizunova
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2011
Назва видання:	Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000473584
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Dynamical diffractometry of Structural defects in Nd3Ga5O12 garnet single crystal
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)

Dynamical Diffractometry of Defects and Strains in Gd3Ga5O12 Garnet Crystals After Implantation with F+ Ions
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2013)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Simulation and Diagnostics of Strains in the Subsurface Layers of Gadolinium—Gallium Garnet Single Crystals Implanted with F+ Ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2015)

New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)

Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2015)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Defects related luminescence in yttrium-aluminum garnet crystals
за авторством: Shiran, N., та інші
Опубліковано: (2016)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Gamma-ray-induced decrease of L-defect concentration in KDP single crystals
за авторством: Levchenko, A.N., та інші
Опубліковано: (2011)

Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2015)

New approaches and possibilities of a dynamical diffractometry of imperfections of multiparameter systems
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2014)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Basic physics of multiparameter crystallography: diagnostics of defects of several types in single-crystal materials and articles of nanotechnologies
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2011)

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
за авторством: S. I. Drapak, та інші
Опубліковано: (2022)

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
за авторством: S. I. Drapak, та інші
Опубліковано: (2022)

Modelling and diagnostics of damages and strains in a crystal of Gd3Ga5O12 after implantation of F ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)

X-ray investigations of phase transition in Bi₂TeO₅ single crystals
за авторством: Domoratsky, K.V., та інші
Опубліковано: (1999)

X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)

X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals
за авторством: Mustafaeva, S.N., та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: Shul’pina, I.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals
за авторством: Prokopenko, I.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Influence of technological sol–gel synthesis conditions on process of formation of single-phase polycrystalline iron–yttrium garnet
за авторством: B. K. Ostafiichuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Thermostimulated luminescence and the temperature dependence of X-ray luminescence of the Li₂B₄O₇ single crystals
за авторством: Hunda, B.M., та інші
Опубліковано: (2000)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray dosimetry of copper-doped CdGa2S4 single crystals
за авторством: S. N. Mustafaeva, та інші
Опубліковано: (2012)

The effect of X-ray irradiation on ultrasound attenuation and velocity in LiF single crystals
за авторством: Petchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2019)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)