Phase portraits of deformation effects on strain-sensitive Bi2Te3 and Sb2Te3 films
Збережено в:
Дата: | 2011 |
---|---|
Автори: | Kh. Shamirzaev, G. G. Guljamov, M. G. Dadamirzaev, Ju. Sharibaev, A. G. Guljamov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2011
|
Назва видання: | Physical surface engineering |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000889690 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Репозиторії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Definition of effective density of electronic surface state in nanocrystal films Bi2Te3-Sb2Te3
за авторством: Kh. Shamirzaev, та інші
Опубліковано: (2006) -
Influence of the effective mass of the state density on the temperature dependence of the band gap in solid solutions p-Bi2-xSbxTe3-ySey
за авторством: G. Guljamov, та інші
Опубліковано: (2013) -
Phase portraits of deformation effects in semiconductors in the pulsed mode
за авторством: M. G. Dadamirzaev, та інші
Опубліковано: (2012) -
The influence of cyclic deformations on the elektrophysical characteristics of polycrystalline thin films (Bi0,3Sb0,7)2Te3
за авторством: Sh. D. Sultonov, та інші
Опубліковано: (2009) -
Defects in Lamellar Phases of the Bi2Te3—Te Eutectics
за авторством: M. A. Ramazanov, та інші
Опубліковано: (2014)