Kolchin, A., Potiyenko, S., & Weigert, T. (2020). Efficient increasing of the mutation score during model-based test suite generation. PROBLEMS IN PROGRAMMING. https://doi.org/10.15407/pp2020.02-03.331
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kolchin, A., S. Potiyenko, та T. Weigert. Efficient Increasing of the Mutation Score During Model-based Test Suite Generation. PROBLEMS IN PROGRAMMING, 2020. https://doi.org/10.15407/pp2020.02-03.331.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kolchin, A., et al. Efficient Increasing of the Mutation Score During Model-based Test Suite Generation. PROBLEMS IN PROGRAMMING, 2020. https://doi.org/10.15407/pp2020.02-03.331.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.