Buchumschlag

Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients

Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмежен...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2012
Hauptverfasser: Nazarchuk, Z. T., Synyavskyy, A. T.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Видавничий дім «Академперіодика» 2012
Online Zugang:http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Radio physics and radio astronomy

Institution

Radio physics and radio astronomy
_version_ 1856543451765538816
author Nazarchuk, Z. T.
Synyavskyy, A. T.
author_facet Nazarchuk, Z. T.
Synyavskyy, A. T.
author_sort Nazarchuk, Z. T.
baseUrl_str
collection OJS
datestamp_date 2012-11-13T16:49:32Z
description Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент.
first_indexed 2025-12-02T15:50:15Z
format Article
id rpra-journalorgua-article-473
institution Radio physics and radio astronomy
language Russian
last_indexed 2025-12-02T15:50:15Z
publishDate 2012
publisher Видавничий дім «Академперіодика»
record_format ojs
spelling rpra-journalorgua-article-4732012-11-13T16:49:32Z Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients Nazarchuk, Z. T. Synyavskyy, A. T. Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents. Видавничий дім «Академперіодика» 2012-11-13 Article Article application/pdf http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473 РАДИОФИЗИКА И РАДИОАСТРОНОМИЯ; Vol 15, No 3 (2010); 295 RADIO PHYSICS AND RADIO ASTRONOMY; Vol 15, No 3 (2010); 295 РАДІОФІЗИКА І РАДІОАСТРОНОМІЯ; Vol 15, No 3 (2010); 295 2415-7007 1027-9636 ru http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473/38
spellingShingle Nazarchuk, Z. T.
Synyavskyy, A. T.
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title_alt Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
title_full Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title_fullStr Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title_full_unstemmed Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title_short Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
title_sort determination of multilayer structure parameters by means of reconstruction of scattering matrix from known reflection coefficients
url http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473
work_keys_str_mv AT nazarchukzt viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ
AT synyavskyyat viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ
AT nazarchukzt determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients
AT synyavskyyat determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients

Ähnliche Einträge