Buchumschlag

Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients

Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмежен...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
Hauptverfasser:	Nazarchuk, Z. T., Synyavskyy, A. T.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Видавничий дім «Академперіодика» 2012
Online Zugang:	http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473
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Назва журналу:	Radio physics and radio astronomy

Institution

Radio physics and radio astronomy

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