ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

To implement the adaptive pulse method for measuring the current-voltage characteristics of semiconductor devices the mathematical relation between the duration of pauses that follow the measuring pulses and the power and duration of these pulses is obtained. The use of obtained mathematical formula...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: Ермоленко , Е.А., Бондаренко , А.Ф., Баранов, А.Н.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Інститут електродинаміки НАН України, Київ 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1347
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technical Electrodynamics
Завантажити файл: Pdf

Репозитарії

Technical Electrodynamics
_version_ 1870204710721421312
author Ермоленко , Е.А.
Бондаренко , А.Ф.
Баранов, А.Н.
author_facet Ермоленко , Е.А.
Бондаренко , А.Ф.
Баранов, А.Н.
author_institution_txt_mv [ { "author": "Е.А. Ермоленко ", "institution": "Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина" }, { "author": "А.Ф. Бондаренко ", "institution": "Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина" }, { "author": "А.Н. Баранов", "institution": "Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина" } ]
author_sort Ермоленко , Е.А.
baseUrl_str https://techned.org.ua/index.php/techned/oai
collection OJS
datestamp_date 2023-01-23T21:14:05Z
description To implement the adaptive pulse method for measuring the current-voltage characteristics of semiconductor devices the mathematical relation between the duration of pauses that follow the measuring pulses and the power and duration of these pulses is obtained. The use of obtained mathematical formula for specifying parameters of pulse sequence allows to reduce the accumulation of heat in the structure of semiconductor device during the process of measuring the current-voltage characteristics, thereby improving measuring accuracy. References 2, figures 2.
first_indexed 2026-06-16T01:25:13Z
format Article
fulltext ISSN 1607-7970. . 2012. 3 127 621.317: 621.3.08 , , , . , 16, . , 94204, . - , - , . - - , . . 2, . 2. : , , , . , - . , , , . , , . . - , ( ). , , ( ) . , - . . - . [1] , - . , , : - , - ( . 1). - , , - t = f(P, t ). [2]. , , - ( ) 1 exp( / ) exp( / ), 0thjc thjc thjct P R t T t T t t , (1) – ; P – ; t – - ; Rthjc – , t ; Tthjc – , Rthjc - Cth . (1) . , , ( . 1). t , . , (1) t , t = f(P, t ) 1ln 1 exp( / ) , 1 exp( / ) ( , ) 0 , 1 exp( / ) thjc thjc thjc thjc thjc thjc thjc T PR t T PR t T t P t PR t T (2) 128 ISSN 1607-7970. . 2012. 3 IRF2804, . 2. , , - , . , . 1. ., . - // . . . " ". – 2010. – . 2. – . 126–129. 2. . . – : , 1967. – 144 . 621.317: 621.3.08 - ., ., ., , . , 16, , 94204. , , . - - , . . 2, . 2. : , , , - . DETERMINING PARAMETERS OF PULSE SEQUENCE FOR ADAPTIVE METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICES CURRENT- VOLTAGE CHARACTERISTICS MEASURING Ye.A. Yermolenko, A.F. Bondarenko, A.N. Baranov, Donbas State Technical University, Lenin ave., 16, Alchevsk, 94204, Ukraine. To implement the adaptive pulse method for measuring the current-voltage characteristics of semiconductor devices the mathematical relation between the duration of pauses that follow the measuring pulses and the power and duration of these pulses is obtained. The use of obtained mathematical formula for specifying parameters of pulse sequence allows to reduce the accumulation of heat in the structure of semiconductor device during the process of measuring the current-voltage characteristics, thereby improving measuring accuracy. References 2, figures 2. Key words: semiconductor device, thermal model, current-voltage characteristic, adaptive pulse measurement method. 1. Bondarenko A.F., Yermolenko Ye.A. The method of automatic measurement of current-voltage characteristics of semiconductor devices // Tekhnichna elektrodynamika. Tematychnyi vypusk "Problemy suchasnoi elektrotekhniky". – 2010. – Vol. 2. – P . 126–129. (Rus) 2. Davidov P.D. Analysis and calculation of thermal modes of semiconductor devices.— Moskva: Enerhiia, 1967. – 144 p. (Rus) 03.01.2012 Received 03.01.2012 . 1 . 2
id techned_org_ua-article-1347
institution Technical Electrodynamics
keywords_txt_mv keywords
language Ukrainian
last_indexed 2026-06-16T01:25:13Z
publishDate 2012
publisher Інститут електродинаміки НАН України, Київ
record_format ojs
resource_txt_mv technedorgua/c3/3800d754eb4453258ec0e036fa4083c3.pdf
spelling techned_org_ua-article-13472023-01-23T21:14:05Z DETERMINING PARAMETERS OF PULSE SEQUENCE FOR ADAPTIVE METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICES CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS MEASURING ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ Ермоленко , Е.А. Бондаренко , А.Ф. Баранов, А.Н. semiconductor device thermal model current-voltage characteristic adaptive pulse measurement method полупроводниковый прибор тепловая модель вольт-амперная характеристика , адаптивный импульсный способ измерения To implement the adaptive pulse method for measuring the current-voltage characteristics of semiconductor devices the mathematical relation between the duration of pauses that follow the measuring pulses and the power and duration of these pulses is obtained. The use of obtained mathematical formula for specifying parameters of pulse sequence allows to reduce the accumulation of heat in the structure of semiconductor device during the process of measuring the current-voltage characteristics, thereby improving measuring accuracy. References 2, figures 2. Для реализации адаптивного импульсного способа измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов получена математическая зависимость длительности пауз, которые следуют за измерительными импульсами, от мощности и длительности этих импульсов. Использование полученного математического выражения при формировании параметров импульсной последовательности позволяет уменьшить накопление тепла в структуре полупроводникового прибора в процессе измерения вольт-амперной характеристики, что способствует повышению точности измерения. Библ. 2, рис. 2. Інститут електродинаміки НАН України, Київ 2012-04-05 Article Article application/pdf https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1347 Tekhnichna Elektrodynamika; No. 3 (2012): TEKHNICHNA ELEKTRODYNAMIKA; 127 ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА; № 3 (2012): ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА; 127 2218-1903 1607-7970 uk https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1347/1231 Авторське право (c) 2023 ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
spellingShingle полупроводниковый прибор
тепловая модель
вольт-амперная характеристика

адаптивный импульсный способ измерения
Ермоленко , Е.А.
Бондаренко , А.Ф.
Баранов, А.Н.
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title_alt DETERMINING PARAMETERS OF PULSE SEQUENCE FOR ADAPTIVE METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICES CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS MEASURING
title_full ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title_fullStr ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title_full_unstemmed ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title_short ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
title_sort определение параметров импульсной последовательности для адаптивного способа измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов
topic полупроводниковый прибор
тепловая модель
вольт-амперная характеристика

адаптивный импульсный способ измерения
topic_facet semiconductor device
thermal model
current-voltage characteristic
adaptive pulse measurement method
полупроводниковый прибор
тепловая модель
вольт-амперная характеристика

адаптивный импульсный способ измерения
url https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1347
work_keys_str_mv AT ermolenkoea determiningparametersofpulsesequenceforadaptivemethodofsemiconductordevicescurrentvoltagecharacteristicsmeasuring
AT bondarenkoaf determiningparametersofpulsesequenceforadaptivemethodofsemiconductordevicescurrentvoltagecharacteristicsmeasuring
AT baranovan determiningparametersofpulsesequenceforadaptivemethodofsemiconductordevicescurrentvoltagecharacteristicsmeasuring
AT ermolenkoea opredelenieparametrovimpulʹsnojposledovatelʹnostidlâadaptivnogosposobaizmereniâvolʹtampernyhharakteristikpoluprovodnikovyhpriborov
AT bondarenkoaf opredelenieparametrovimpulʹsnojposledovatelʹnostidlâadaptivnogosposobaizmereniâvolʹtampernyhharakteristikpoluprovodnikovyhpriborov
AT baranovan opredelenieparametrovimpulʹsnojposledovatelʹnostidlâadaptivnogosposobaizmereniâvolʹtampernyhharakteristikpoluprovodnikovyhpriborov