Мельник, В., Борщов, П., Беляєв, В., Василенко, О., & Брагинець, І. (2026). МЕТОДИ ПІДВИЩЕННЯ ЧУТЛИВОСТІ, ТОЧНОСТІ І СЕЛЕКТИВНОСТІ ВИМІРЮВАНЬ У ДИФЕРЕНЦІЙНИХ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ СИСТЕМАХ. Інститут електродинаміки НАН України, Київ. https://doi.org/10.15407/techned2026.04.087
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Мельник, В.Г, П.І Борщов, В.К Беляєв, О.Д Василенко, та І.О Брагинець. МЕТОДИ ПІДВИЩЕННЯ ЧУТЛИВОСТІ, ТОЧНОСТІ І СЕЛЕКТИВНОСТІ ВИМІРЮВАНЬ У ДИФЕРЕНЦІЙНИХ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ СИСТЕМАХ. Інститут електродинаміки НАН України, Київ, 2026. https://doi.org/10.15407/techned2026.04.087.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Мельник, В.Г, et al. МЕТОДИ ПІДВИЩЕННЯ ЧУТЛИВОСТІ, ТОЧНОСТІ І СЕЛЕКТИВНОСТІ ВИМІРЮВАНЬ У ДИФЕРЕНЦІЙНИХ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ СИСТЕМАХ. Інститут електродинаміки НАН України, Київ, 2026. https://doi.org/10.15407/techned2026.04.087.