Особливостi перенесення заряду в структурах Mo/n-Si з бар’єром шотки
Forward and reverse current-voltage characteristics of Mo/n-Si Schottky barrier structures have been studied experimentally in the temperature range 130-330 K. The Schottky barrier height is found to increase and the ideality factor to decrease, as the temperature grows. The obtained results are ana...
Збережено в:
| Дата: | 2018 |
|---|---|
| Автор: | Olikh, O. Ya. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2018
|
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018276 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of PhysicsСхожі ресурси
-
Контакти з бар’єром Шотткі Au–TiBx–n-GaN
за авторством: Кудрик, Р.Я.
Опубліковано: (2015) -
Механізми перенесення заряду в полікристалічних сандвіч-структурах p⁺-PbTe/p-CdTe/p⁺-PbTe
за авторством: Сукач, А.В., та інші
Опубліковано: (2013) -
Перенесення заряду в полікристалічних плівках Pd нанометрової товщини
за авторством: Бігун, Р.І., та інші
Опубліковано: (2016) -
Процеси перенесення заряду в системi сплавiв (SnS)1−x(PrS)x
за авторством: Abbasov, I. I., та інші
Опубліковано: (2018) -
Features of charge transport in Mo/n-Si structures with a Schottky barrier
за авторством: Ya. Olikh
Опубліковано: (2013)