Особливостi перенесення заряду в структурах Mo/n-Si з бар’єром шотки

Forward and reverse current-voltage characteristics of Mo/n-Si Schottky barrier structures have been studied experimentally in the temperature range 130-330 K. The Schottky barrier height is found to increase and the ideality factor to decrease, as the temperature grows. The obtained results are ana...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автор: Olikh, O. Ya.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018276
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозиторії

Ukrainian Journal of Physics