Дослiдження розповсюдження температурних профiлiв в нестехiометричних плiвках SiOx при лазерному вiдпалi

The distribution of temperature profiles in nonstoichiometric SiOx films at the single pulse laser annealing has been studied theoretically. Temperature distributions on the surface of the SiOx films at irradiation by a laser beam with various intensities have been calculated. Temperature distributi...

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Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2018
Hauptverfasser: Gavrylyuk, O. O., Semchuk, O. Yu., Steblova, O. V., Evtukh, A. A., Fedorenko, L. L.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2018
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018499
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Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics

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