Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением

Possibilities of plasma chemical deposition of a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) films undoped and doped with PH3 or B2H6 have been analyzed from the viewpoint of their application in p–i–n structures of solar cells. The optical, electric, and photo-electric properties are considered, and the amount o...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2018
Hauptverfasser: Najafov, B. A., Dadashova, V. V.
Format: Artikel
Sprache:English
Ukrainian
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2018
Schlagworte:
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018533
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics
id ujp2-article-2018533
record_format ojs
spelling ujp2-article-20185332019-03-31T18:55:36Z Optoelectronic Properties of Thin Hydrogenated a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) Films Produced by Plasma Chemical Deposition Technique Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением Najafov, B. A. Dadashova, V. V. thin hydrogenated films plasma chemical deposition photoconductivity гидрогенизированные тонкие пленки плазмохимическое осаждение фотопроводимость Possibilities of plasma chemical deposition of a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) films undoped and doped with PH3 or B2H6 have been analyzed from the viewpoint of their application in p–i–n structures of solar cells. The optical, electric, and photo-electric properties are considered, and the amount of hydrogen contained in those films is determined. The film properties are found to strongly depend on the film composition and the hydrogenation level. The number of hydrogen atoms in the films is varied by changing the gas mixture composition, and IR absorption in a-Si:H and a-Ge:H films is measured. The photoconductivity is calculated using the formula Jph = AF^y with y = 1. The hydrogen concentration NH in the films is characterized by the preferable additional parameter P and was determined with the use of the vibrational stretching and wegging modes for the a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) films. The a-Si:H and a-Si0.88Ge0.12:H films were used to fabricate three-layer solar cells with an element area of 1.3 cm2 and an efficiency of 9.5%. Проанализированы возможности применения технологии плазмохимического осаждения пленок a-Si1−xGex:H (x = 0−1), нелегированных и легированных PH3 и B2H6, для использования их в p–i–n-структурах солнечных элементов. Рассмотрены оптические, электрические, фотоэлектрические свойства, также определено количество водорода, содержащегося в данной пленке. Найдено, что свойства пленки сильно зависят от состава и уровня гидрогенизации. Количество атомов водорода в пленках варьировали путем изменения составов газовой смеси, и измеряли ИК поглощение для пленок a-Si:H и a-Ge:H. Фотопроводимость рассчитывалась по соотношению: Jф = AF^y при y = 1. Концентрация водорода в пленках определялась предпочтительным дополнительным параметром – Р. В то же время NH определялось с помощью колебательной моды растяжения и моды качения для пленок a-Si1−xGex:H (x = 0−1). На основе пленок a-Si:H и a-Si0,88Ge0,12:H изготовлены трехслойные солнечные элементы с площадью элемента 1,3 см2 и эффективностью (E) 9,5%. Publishing house "Academperiodika" 2018-10-25 Article Article Peer-reviewed Рецензована стаття application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018533 10.15407/ujpe59.10.0959 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 59 No. 10 (2014); 959 Український фізичний журнал; Том 59 № 10 (2014); 959 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe59.10 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018533/585 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018533/586 Copyright (c) 2018 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine
institution Ukrainian Journal of Physics
baseUrl_str
datestamp_date 2019-03-31T18:55:36Z
collection OJS
language English
Ukrainian
topic гидрогенизированные тонкие пленки
плазмохимическое осаждение
фотопроводимость
spellingShingle гидрогенизированные тонкие пленки
плазмохимическое осаждение
фотопроводимость
Najafov, B. A.
Dadashova, V. V.
Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
topic_facet thin hydrogenated films
plasma chemical deposition
photoconductivity
гидрогенизированные тонкие пленки
плазмохимическое осаждение
фотопроводимость
format Article
author Najafov, B. A.
Dadashova, V. V.
author_facet Najafov, B. A.
Dadashova, V. V.
author_sort Najafov, B. A.
title Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_short Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_full Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_fullStr Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_full_unstemmed Оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-Si1−xGex:H (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_sort оптоэлектронные свойства в гидрогенизированных тонких пленках a-si1−xgex:h (x = 0−1), полученных плазмохимическим осаждением
title_alt Optoelectronic Properties of Thin Hydrogenated a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) Films Produced by Plasma Chemical Deposition Technique
description Possibilities of plasma chemical deposition of a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) films undoped and doped with PH3 or B2H6 have been analyzed from the viewpoint of their application in p–i–n structures of solar cells. The optical, electric, and photo-electric properties are considered, and the amount of hydrogen contained in those films is determined. The film properties are found to strongly depend on the film composition and the hydrogenation level. The number of hydrogen atoms in the films is varied by changing the gas mixture composition, and IR absorption in a-Si:H and a-Ge:H films is measured. The photoconductivity is calculated using the formula Jph = AF^y with y = 1. The hydrogen concentration NH in the films is characterized by the preferable additional parameter P and was determined with the use of the vibrational stretching and wegging modes for the a-Si1−xGex:H (x = 0÷1) films. The a-Si:H and a-Si0.88Ge0.12:H films were used to fabricate three-layer solar cells with an element area of 1.3 cm2 and an efficiency of 9.5%.
publisher Publishing house "Academperiodika"
publishDate 2018
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018533
work_keys_str_mv AT najafovba optoelectronicpropertiesofthinhydrogenatedasi1xgexhx01filmsproducedbyplasmachemicaldepositiontechnique
AT dadashovavv optoelectronicpropertiesofthinhydrogenatedasi1xgexhx01filmsproducedbyplasmachemicaldepositiontechnique
AT najafovba optoélektronnyesvojstvavgidrogenizirovannyhtonkihplenkahasi1xgexhx01polučennyhplazmohimičeskimosaždeniem
AT dadashovavv optoélektronnyesvojstvavgidrogenizirovannyhtonkihplenkahasi1xgexhx01polučennyhplazmohimičeskimosaždeniem
first_indexed 2025-10-02T01:15:01Z
last_indexed 2025-10-02T01:15:01Z
_version_ 1851765111578951680