Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу

A capability to produce effective sensor structures on the basis of “deep”silicon junction has been substantiated. If the incident light is strongly absorbed by this junction, the photocurrent through it is shown to substantially depend on the recombination characteristics and the charge state of th...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автори: Kozinetz, A. V., Litvinenko, S. V., Skryshevsky, V. A.
Формат: Стаття
Мова:English
Ukrainian
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018691
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозитарії

Ukrainian Journal of Physics
id ujp2-article-2018691
record_format ojs
spelling ujp2-article-20186912019-04-23T07:01:49Z Physical Properties of Silicon Sensor Structures with Photoelectric Transformation on the Basis of “Deep” p–n-Junction Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу Kozinetz, A. V. Litvinenko, S. V. Skryshevsky, V. A. сонячний елемент кремнiєвий p–n-перехiд фотострум швидкiсть поверхневої рекомбiнацiї solar cell silicon junction photocurrent surface recombination rate - A capability to produce effective sensor structures on the basis of “deep”silicon junction has been substantiated. If the incident light is strongly absorbed by this junction, the photocurrent through it is shown to substantially depend on the recombination characteristics and the charge state of the illuminated surface, provided that the junction parameters are optimal. The depth of the illuminated region is demonstrated to exceed the diffusion length of minority charge carriers. It is found that the larger diffusion length of minority charge carriers corresponds to stronger changes of the photocurrent generated by the illuminated surface area. A possibility to transform the junction from a photodetector into an effective chemical sensor is verified by numerical calculations. The physical mechanisms relating the changes in the effective surface recombination rate and the absorption of polar molecules are discussed. The sensor properties of suggested silicon junctions are analyzed for a number of analytes. Their suitability for the creation of selective chemical sensors (electronic noses) is demonstrated experimentally. В роботi обґрунтовано можливiсть використання кремнiєвого переходу для ефективних сенсорних структур. Показано, що в умовах опромiнення свiтлом з областi сильного поглинання фотострум суттєво залежить вiд рекомбiнацiйних характеристик та зарядового стану поверхнi у випадку оптимальних параметрiв переходу. Визначено, що товщина освiтлюваної областi для такої структури повинна перевищувати довжину дифузiї неосновних носiїв заряду. Визначено також, що бiльшiй довжинi дифузiї вiдповiдають бiльшi змiни фотоструму при адсорбцiї на робочiй поверхнi. З використанням числового моделювання проаналiзовано можливiсть змiни областi застосування переходу вiд фотоперетворювача до сенсорної структури при певному виборi його параметрiв. Обговорено фiзичнi механiзми, якi можуть пов’язувати змiни ефективної швидкостi iз процесами адсорбцiї полярних молекул. Cенсорнi властивостi запропонованих структур дослiджено для декiлькох аналiтiв. Експериментально продемонстровано придатнiсть такої структури для створення хiмiчних сенсорiв, якi мають функцiю селективностi та пiдтримують концепцiю електронного носу. Publishing house "Academperiodika" 2018-12-15 Article Article Peer-reviewed Рецензована стаття application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018691 10.15407/ujpe62.04.0318 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 62 No. 4 (2017); 318 Український фізичний журнал; Том 62 № 4 (2017); 318 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe62.04 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018691/817 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018691/818 Copyright (c) 2018 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine
institution Ukrainian Journal of Physics
baseUrl_str
datestamp_date 2019-04-23T07:01:49Z
collection OJS
language English
Ukrainian
topic сонячний елемент
кремнiєвий p–n-перехiд
фотострум
швидкiсть поверхневої рекомбiнацiї
spellingShingle сонячний елемент
кремнiєвий p–n-перехiд
фотострум
швидкiсть поверхневої рекомбiнацiї
Kozinetz, A. V.
Litvinenko, S. V.
Skryshevsky, V. A.
Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
topic_facet сонячний елемент
кремнiєвий p–n-перехiд
фотострум
швидкiсть поверхневої рекомбiнацiї
solar cell
silicon junction
photocurrent
surface recombination rate
-
format Article
author Kozinetz, A. V.
Litvinenko, S. V.
Skryshevsky, V. A.
author_facet Kozinetz, A. V.
Litvinenko, S. V.
Skryshevsky, V. A.
author_sort Kozinetz, A. V.
title Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_short Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_full Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_fullStr Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_full_unstemmed Фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_sort фiзичнi властивостi кремнiєвих сенсорних структур з фотоелектричним принципом перетворення на основi “глибокого” p–n-переходу
title_alt Physical Properties of Silicon Sensor Structures with Photoelectric Transformation on the Basis of “Deep” p–n-Junction
description A capability to produce effective sensor structures on the basis of “deep”silicon junction has been substantiated. If the incident light is strongly absorbed by this junction, the photocurrent through it is shown to substantially depend on the recombination characteristics and the charge state of the illuminated surface, provided that the junction parameters are optimal. The depth of the illuminated region is demonstrated to exceed the diffusion length of minority charge carriers. It is found that the larger diffusion length of minority charge carriers corresponds to stronger changes of the photocurrent generated by the illuminated surface area. A possibility to transform the junction from a photodetector into an effective chemical sensor is verified by numerical calculations. The physical mechanisms relating the changes in the effective surface recombination rate and the absorption of polar molecules are discussed. The sensor properties of suggested silicon junctions are analyzed for a number of analytes. Their suitability for the creation of selective chemical sensors (electronic noses) is demonstrated experimentally.
publisher Publishing house "Academperiodika"
publishDate 2018
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018691
work_keys_str_mv AT kozinetzav physicalpropertiesofsiliconsensorstructureswithphotoelectrictransformationonthebasisofdeeppnjunction
AT litvinenkosv physicalpropertiesofsiliconsensorstructureswithphotoelectrictransformationonthebasisofdeeppnjunction
AT skryshevskyva physicalpropertiesofsiliconsensorstructureswithphotoelectrictransformationonthebasisofdeeppnjunction
AT kozinetzav fizičnivlastivostikremniêvihsensornihstrukturzfotoelektričnimprincipomperetvorennânaosnoviglibokogopnperehodu
AT litvinenkosv fizičnivlastivostikremniêvihsensornihstrukturzfotoelektričnimprincipomperetvorennânaosnoviglibokogopnperehodu
AT skryshevskyva fizičnivlastivostikremniêvihsensornihstrukturzfotoelektričnimprincipomperetvorennânaosnoviglibokogopnperehodu
first_indexed 2025-10-02T01:15:26Z
last_indexed 2025-10-02T01:15:26Z
_version_ 1851765138950979584