Електричнi властивостi оксидокремнiєвих гетероструктур на основi поруватого кремнiю

The processes of charge-carrier transport and relaxation in silicon-oxide heterostructures based on porous silicon have been studied, by using voltammetric measurements and thermoactivation spectroscopy. The temperature dependences of the conductivity in experimental structures are measured in an in...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автори: Olenych, I. B., Monastyrskyi, L. S., Koman, B. P.
Формат: Стаття
Мова:English
Ukrainian
Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018718
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Репозиторії

Ukrainian Journal of Physics