Електричнi властивостi оксидокремнiєвих гетероструктур на основi поруватого кремнiю
The processes of charge-carrier transport and relaxation in silicon-oxide heterostructures based on porous silicon have been studied, by using voltammetric measurements and thermoactivation spectroscopy. The temperature dependences of the conductivity in experimental structures are measured in an in...
Збережено в:
Дата: | 2018 |
---|---|
Автори: | , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English Ukrainian |
Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2018
|
Теми: | |
Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018718 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |