Електричнi властивостi оксидокремнiєвих гетероструктур на основi поруватого кремнiю

The processes of charge-carrier transport and relaxation in silicon-oxide heterostructures based on porous silicon have been studied, by using voltammetric measurements and thermoactivation spectroscopy. The temperature dependences of the conductivity in experimental structures are measured in an in...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Datum:2018
Hauptverfasser: Olenych, I. B., Monastyrskyi, L. S., Koman, B. P.
Format: Artikel
Sprache:English
Ukrainian
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2018
Schlagworte:
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018718
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Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics

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