Venger, E. F., Melnichuk, L. Y., Melnichuk, A. V., & Semikina, T. V. (2019). Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО. Publishing house "Academperiodika". https://doi.org/10.15407/ujpe61.12.1053
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Venger, E. F., L. Yu Melnichuk, A. V. Melnichuk, та T. V. Semikina. Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО. Publishing house "Academperiodika", 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe61.12.1053.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Venger, E. F., et al. Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО. Publishing house "Academperiodika", 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe61.12.1053.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.