Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО

• Date: 2019
• Main Authors: Venger, E. F., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, A. V., Semikina, T. V.
• Format: Article
• Language: English; Ukrainian
• Published: Publishing house "Academperiodika" 2019
• Subjects: метод порушеного повного внутрiшнього вiдбивання; провiднi нелегованi плiвки ZnO; поверхневi плазмон-фононнi поляритони
• Online Access: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019006
• Journal Title: Ukrainian Journal of Physics

Using the IR reflection method and the modified method of disturbed total internal reflection (DTIR), thin undoped conducting ZnO films grown with the use of the atomic layer deposition method have been studied theoretically and experimentally for the first time in a spectral interval of 400–1400 cm...