Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО

• Дата: 2019
• Автори: Venger, E. F., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, A. V., Semikina, T. V.
• Формат: Стаття
• Мова: English; Ukrainian
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2019
• Теми: метод порушеного повного внутрiшнього вiдбивання; провiднi нелегованi плiвки ZnO; поверхневi плазмон-фононнi поляритони; disturbed total internal reflection; undoped conducting ZnO films; surface plasmon-phonon polaritons; -
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019006
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

Using the IR reflection method and the modified method of disturbed total internal reflection (DTIR), thin undoped conducting ZnO films grown with the use of the atomic layer deposition method have been studied theoretically and experimentally for the first time in a spectral interval of 400–1400 cm...