Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї
By registering the polarization state of probing radiation transmitted through a silicon crystal wafer, the optical anisotropy induced in the crystal by the heat flow from an external contact heater has been studied. The modulation polarimetry technique is used, the high resolution of which allowed...
Збережено в:
| Дата: | 2019 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English Ukrainian |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2019
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019264 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of Physics| id |
ujp2-article-2019264 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
ujp2-article-20192642019-04-11T08:02:55Z Polarized Radiation Interferometry Research of Thermoelasticity in Silicon Crystal with the Use of Modulation Polarimetry Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї Minailova, I. A. модуляцiйна поляриметрiя термопружнiсть фотопружнiсть iнтерференцiя поляризованого випромiнювання механiчне напруження modulation polarimetry thermoelasticity photoelasticity polarized radiation interference mechanical stress - By registering the polarization state of probing radiation transmitted through a silicon crystal wafer, the optical anisotropy induced in the crystal by the heat flow from an external contact heater has been studied. The modulation polarimetry technique is used, the high resolution of which allowed the measurements to be made under conditions of the low temperature gradient and, hence, temperature-independent coefficients. A superposition of two- and multibeam interferences of circularly polarized radiation is detected. It is shown that the corresponding parameters provide information on the magnitude of mechanical stresses (dielectric anisotropy), as well as on some optical coefficients. Методом реєстрацiї стану поляризацiї зондуючого випромiнювання у пропусканнi пластинкою кристалiчного кремнiю дослiджується оптична анiзотропiя, що зумовлена тепловим потоком вiд зовнiшнього контактного нагрiву. У вимiрюваннях використано технiку модуляцiйної поляриметрiї, завдяки високiй виявнiй здатностi якої дослiдження проведено в умовах незначного перепаду температур та температурно незалежних коефiцiєнтiв. Виявлено суперпозицiю iнтерференцiй циркулярно поляризованого випромiнювання у дво- та багатопроменевому варiантах i показано, що iз її параметрiв можна отримати вiдомостi про величини механiчного напруження (дiелектричної анiзотропiї) та визначити деякi оптичнi коефiцiєнти. Publishing house "Academperiodika" 2019-01-21 Article Article Peer-reviewed Рецензована стаття application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019264 10.15407/ujpe60.03.0268 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 60 No. 3 (2015); 268 Український фізичний журнал; Том 60 № 3 (2015); 268 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe60.03 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019264/1263 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019264/1264 Copyright (c) 2019 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine |
| institution |
Ukrainian Journal of Physics |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2019-04-11T08:02:55Z |
| collection |
OJS |
| language |
English Ukrainian |
| topic |
модуляцiйна поляриметрiя термопружнiсть фотопружнiсть iнтерференцiя поляризованого випромiнювання механiчне напруження |
| spellingShingle |
модуляцiйна поляриметрiя термопружнiсть фотопружнiсть iнтерференцiя поляризованого випромiнювання механiчне напруження Minailova, I. A. Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| topic_facet |
модуляцiйна поляриметрiя термопружнiсть фотопружнiсть iнтерференцiя поляризованого випромiнювання механiчне напруження modulation polarimetry thermoelasticity photoelasticity polarized radiation interference mechanical stress - |
| format |
Article |
| author |
Minailova, I. A. |
| author_facet |
Minailova, I. A. |
| author_sort |
Minailova, I. A. |
| title |
Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_short |
Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_full |
Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_fullStr |
Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_full_unstemmed |
Дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_sort |
дослiдження термопружностi у кристалi кремнiю методом iнтерференцiї поляризованого випромiнювання з використанням модуляцiйної поляриметрiї |
| title_alt |
Polarized Radiation Interferometry Research of Thermoelasticity in Silicon Crystal with the Use of Modulation Polarimetry |
| description |
By registering the polarization state of probing radiation transmitted through a silicon crystal wafer, the optical anisotropy induced in the crystal by the heat flow from an external contact heater has been studied. The modulation polarimetry technique is used, the high resolution of which allowed the measurements to be made under conditions of the low temperature gradient and, hence, temperature-independent coefficients. A superposition of two- and multibeam interferences of circularly polarized radiation is detected. It is shown that the corresponding parameters provide information on the magnitude of mechanical stresses (dielectric anisotropy), as well as on some optical coefficients. |
| publisher |
Publishing house "Academperiodika" |
| publishDate |
2019 |
| url |
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019264 |
| work_keys_str_mv |
AT minailovaia polarizedradiationinterferometryresearchofthermoelasticityinsiliconcrystalwiththeuseofmodulationpolarimetry AT minailovaia doslidžennâtermopružnostiukristalikremniûmetodominterferenciípolârizovanogoviprominûvannâzvikoristannâmmodulâcijnoípolârimetrií |
| first_indexed |
2025-10-02T01:16:17Z |
| last_indexed |
2025-10-02T01:16:17Z |
| _version_ |
1851765202122440704 |