Стиль цитування APA (7-ме видання)

Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., & Nakhodkin, M. G. (2019). Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Goriachko, A., S. P. Kulyk, P. V. Melnik, та M. G. Nakhodkin. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Goriachko, A., et al. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.