Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., & Nakhodkin, M. G. (2019). Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika".
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Goriachko, A., S. P. Kulyk, P. V. Melnik, та M. G. Nakhodkin. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika", 2019.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Goriachko, A., et al. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika", 2019.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.