APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., & Nakhodkin, M. G. (2019). Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Goriachko, A., S. P. Kulyk, P. V. Melnik, und M. G. Nakhodkin. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Goriachko, A., et al. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.