Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., & Nakhodkin, M. G. (2019). Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika".
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Goriachko, A., S. P. Kulyk, P. V. Melnik, und M. G. Nakhodkin. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika", 2019.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Goriachko, A., et al. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika", 2019.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.