APA (7th ed.) Citation

Goriachko, A., Kulyk, S. P., Melnik, P. V., & Nakhodkin, M. G. (2019). Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148

Chicago Style (17th ed.) Citation

Goriachko, A., S. P. Kulyk, P. V. Melnik, and M. G. Nakhodkin. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

MLA (8th ed.) Citation

Goriachko, A., et al. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Publishing house "Academperiodika&quot, 2019. https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.