Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3
Thermal evaporation technique is used to deposite (Ga0,2In0,8)2Se3 thin films. The refractive index and extinction coefficient dispersions are obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of the refractive index is described in the framework of the Wemple–Di Domenico model. T...
Gespeichert in:
| Datum: | 2020 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Publishing house "Academperiodika"
2020
|
| Online Zugang: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Institution
Ukrainian Journal of Physics| _version_ | 1863131335028113408 |
|---|---|
| author | Studenyak, I. P. Kranjčec, M. Izai, V. Yu. Studenyak, V. I. Pop, M. M. Suslikov, L. M. |
| author_facet | Studenyak, I. P. Kranjčec, M. Izai, V. Yu. Studenyak, V. I. Pop, M. M. Suslikov, L. M. |
| author_sort | Studenyak, I. P. |
| baseUrl_str | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/oai |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2020-04-03T09:47:37Z |
| description | Thermal evaporation technique is used to deposite (Ga0,2In0,8)2Se3 thin films. The refractive index and extinction coefficient dispersions are obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of the refractive index is described in the framework of the Wemple–Di Domenico model. The optical transmission spectra of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film are studied in the temperature range 77–300 K. The temperature behavior of the Urbach absorption edge, as well as the temperature dependences of the energy pseudogap and Urbach energy, are investigated. The influence of different types of disordering on the optical absorption edge of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film is discussed. Optical parameters of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film and a single crystal are compared. |
| doi_str_mv | 10.15407/ujpe65.3.231 |
| first_indexed | 2025-10-02T01:16:43Z |
| format | Article |
| id | ujp2-article-2019510 |
| institution | Ukrainian Journal of Physics |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | English |
| last_indexed | 2025-10-02T01:16:43Z |
| publishDate | 2020 |
| publisher | Publishing house "Academperiodika" |
| record_format | ojs |
| spelling | ujp2-article-20195102020-04-03T09:47:37Z Ellipsometric and Spectrometric Studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 Thin Film Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 Studenyak, I. P. Kranjčec, M. Izai, V. Yu. Studenyak, V. I. Pop, M. M. Suslikov, L. M. thin film spectral ellipsometry transmission spectra refractive index energy pseudogap Urbach energy - Thermal evaporation technique is used to deposite (Ga0,2In0,8)2Se3 thin films. The refractive index and extinction coefficient dispersions are obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of the refractive index is described in the framework of the Wemple–Di Domenico model. The optical transmission spectra of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film are studied in the temperature range 77–300 K. The temperature behavior of the Urbach absorption edge, as well as the temperature dependences of the energy pseudogap and Urbach energy, are investigated. The influence of different types of disordering on the optical absorption edge of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film is discussed. Optical parameters of a (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film and a single crystal are compared. Тонкi плiвки (Ga0,2In0,8)2Se3 були отриманi методом термiчного напилення. За допомогою методики спектральної елiпсометрiї отримано дисперсiйнi залежностi показника заломлення та коефiцiєнта екстинкцiї. Дисперсiю показника заломлення описано в рамках моделi Уемпла–Дi Доменiко. Спектри оптичного пропускання тонкої плiвки (Ga0,2In0,8)2Se3 дослiджено в iнтервалi температур 77–300 К. Вивчено температурну поведiнку урбахiвського краю поглинання, а також температурнi залежностi ширини псевдозабороненої зони та урбахiвської енергiї. Обговорюється вплив рiзних типiв розупорядкування на край оптичного поглинання тонкої плiвки (Ga0,2In0,8)2Se3. Проведено порiвняння оптичних параметрiв тонкої плiвки та монокристала (Ga0,2In0,8)2Se3. Publishing house "Academperiodika" 2020-03-26 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510 10.15407/ujpe65.3.231 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 65 No. 3 (2020); 231 Український фізичний журнал; Том 65 № 3 (2020); 231 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe65.3 en https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510/1581 Copyright (c) 2020 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine |
| spellingShingle | Studenyak, I. P. Kranjčec, M. Izai, V. Yu. Studenyak, V. I. Pop, M. M. Suslikov, L. M. Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title | Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title_alt | Ellipsometric and Spectrometric Studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 Thin Film |
| title_full | Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title_fullStr | Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title_full_unstemmed | Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title_short | Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 |
| title_sort | еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (ga0,2in0,8)2se3 |
| topic_facet | thin film spectral ellipsometry transmission spectra refractive index energy pseudogap Urbach energy - |
| url | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510 |
| work_keys_str_mv | AT studenyakip ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT kranjcecm ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT izaivyu ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT studenyakvi ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT popmm ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT suslikovlm ellipsometricandspectrometricstudiesofga02in082se3thinfilm AT studenyakip elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 AT kranjcecm elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 AT izaivyu elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 AT studenyakvi elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 AT popmm elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 AT suslikovlm elípsometričnítaspektrometričnídoslídžennâtonkoíplívkiga02in082se3 |