Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3
Thermal evaporation technique is used to deposite (Ga0,2In0,8)2Se3 thin films. The refractive index and extinction coefficient dispersions are obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of the refractive index is described in the framework of the Wemple–Di Domenico model. T...
Збережено в:
| Дата: | 2020 |
|---|---|
| Автори: | Studenyak, I. P., Kranjčec, M., Izai, V. Yu., Studenyak, V. I., Pop, M. M., Suslikov, L. M. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2020
|
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of PhysicsСхожі ресурси
-
Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2020) -
Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2020) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021) -
Оптичні параметри свіжоприготованих та відпалених тонких плівок (Ga0,3In0,7)2Se3
за авторством: Pop, M., та інші
Опубліковано: (2021)