Buchumschlag

Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3

Thermal evaporation technique is used to deposite (Ga0,2In0,8)2Se3 thin films. The refractive index and extinction coefficient dispersions are obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of the refractive index is described in the framework of the Wemple–Di Domenico model. T...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2020
Hauptverfasser:	Studenyak, I. P., Kranjčec, M., Izai, V. Yu., Studenyak, V. I., Pop, M. M., Suslikov, L. M.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Publishing house "Academperiodika" 2020
Online Zugang:	https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019510
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Назва журналу:	Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics

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