Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC

Specular infrared reflection spectra in the range of “residual rays” of the film and the substrate and in the case of the E⊥c orientation of the electric field have been simulated for the first time for thin MgxZn1−xO films deposited on optically anisotropic 6H-SiC substrates. The simulation was car...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2020
Hauptverfasser: Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, E. F., Venger, I. V.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Ukrainisch
Veröffentlicht: Publishing house "Academperiodika" 2020
Schlagworte:
Online Zugang:https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019511
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Ukrainian Journal of Physics

Institution

Ukrainian Journal of Physics
_version_ 1863131335095222272
author Melnichuk, O. V.
Melnichuk, L. Yu.
Korsunska, N. O.
Khomenkova, L. Yu.
Venger, E. F.
Venger, I. V.
author_facet Melnichuk, O. V.
Melnichuk, L. Yu.
Korsunska, N. O.
Khomenkova, L. Yu.
Venger, E. F.
Venger, I. V.
author_sort Melnichuk, O. V.
baseUrl_str https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/oai
collection OJS
datestamp_date 2022-01-17T12:53:14Z
description Specular infrared reflection spectra in the range of “residual rays” of the film and the substrate and in the case of the E⊥c orientation of the electric field have been simulated for the first time for thin MgxZn1−xO films deposited on optically anisotropic 6H-SiC substrates. The simulation was carried out making use of self-consistent parameters obtained earlier for magnesium oxide, zinc oxide, and silicon carbide single crystals. The film thickness and the Mg content x in the film are demonstrated to considerably distort the reflection spectra and to change the reflectivity of the MgxZn1−xO/6H-SiC structure. Using the Kramers–Kronig relation, the spectral intervals, where the reflectivity is sensitive to the film thickness and to the doping levels of the film and the substrate, are determined. The main attention is paid to analyze results obtained for x = 0.2. The existence of surface polaritons in such structures is theoretically demonstrated for the first time, and the attenuated total reflectance surface I(v)/I0(v) is plotted as a three-dimensional representation of the structure transmittance dependence on the radiation frequency and the incidence angle. A possibility to study the resonant interaction of optical phonons with plasmons in the film and the substrate is demonstrated.
doi_str_mv 10.15407/ujpe65.2.162
first_indexed 2025-10-02T01:16:43Z
format Article
id ujp2-article-2019511
institution Ukrainian Journal of Physics
keywords_txt_mv keywords
language English
Ukrainian
last_indexed 2025-10-02T01:16:43Z
publishDate 2020
publisher Publishing house "Academperiodika"
record_format ojs
spelling ujp2-article-20195112022-01-17T12:53:14Z Phonon-Polariton Excitations in MgZnO/6H-SiC Structures Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC Melnichuk, O. V. Melnichuk, L. Yu. Korsunska, N. O. Khomenkova, L. Yu. Venger, E. F. Venger, I. V. поверхневi поляритони IЧ-спектроскопiя оксид цинку оксид магнiю MgxZn1−xO карбiд кремнiю - surface polaritons IR spectroscopy zinc oxide magnesium oxide MgxZn1−xO silicon carbide - Specular infrared reflection spectra in the range of “residual rays” of the film and the substrate and in the case of the E⊥c orientation of the electric field have been simulated for the first time for thin MgxZn1−xO films deposited on optically anisotropic 6H-SiC substrates. The simulation was carried out making use of self-consistent parameters obtained earlier for magnesium oxide, zinc oxide, and silicon carbide single crystals. The film thickness and the Mg content x in the film are demonstrated to considerably distort the reflection spectra and to change the reflectivity of the MgxZn1−xO/6H-SiC structure. Using the Kramers–Kronig relation, the spectral intervals, where the reflectivity is sensitive to the film thickness and to the doping levels of the film and the substrate, are determined. The main attention is paid to analyze results obtained for x = 0.2. The existence of surface polaritons in such structures is theoretically demonstrated for the first time, and the attenuated total reflectance surface I(v)/I0(v) is plotted as a three-dimensional representation of the structure transmittance dependence on the radiation frequency and the incidence angle. A possibility to study the resonant interaction of optical phonons with plasmons in the film and the substrate is demonstrated. Для тонких плiвок MgxZn1−xO, нанесених на оптично-анiзотропних пiдкладках 6H-SiC, вперше було змодельовано спектри зовнiшнього iнфрачервоного вiдбивання в областi “залишкових променiв” плiвки та пiдкладки за орiєнтацiї електричного поля E⊥c з використанням взаємно узгоджених параметрiв, отриманих ранiше для монокристалiв оксиду магнiю, оксиду цинку та карбiду кремнiю. Показано, що змiни товщини плiвки i вмiсту Mg суттєво деформують спектр вiдбивання та зменшують вiдбивальну здатнiсть R(v). Використовуючи спiввiдношення Крамерса–Кронiга, визначено спектральнi областi, де вiдбивальна здатнiсть є чутливою до змiни товщини плiвки, ступеня легування плiвки та пiдкладки для структури MgxZn1−xO/6H-SiC. Основну увагу придiлено аналiзу даних для значення x = 0,2. Уперше теоретично продемонстровано iснування поверхневих поляритонiв для таких структур та побудовано поверхню порушеного повного внутрiшнього вiдбивання I(v)/I0(v), яка являє собою тривимiрне представлення коефiцiєнта пропускання зазначеної вище структури i залежить вiд частоти випромiнювання i кута падiння. Продемонстровано можливiсть дослiджень резонансної взаємодiї оптичних фононiв та плазмонiв плiвки та пiдкладки. Publishing house "Academperiodika" 2020-03-03 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019511 10.15407/ujpe65.2.162 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 65 No. 2 (2020); 162 Український фізичний журнал; Том 65 № 2 (2020); 162 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe65.2 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019511/1570 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019511/1571 Copyright (c) 2020 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine
spellingShingle поверхневi поляритони
IЧ-спектроскопiя
оксид цинку
оксид магнiю
MgxZn1−xO
карбiд кремнiю
-
Melnichuk, O. V.
Melnichuk, L. Yu.
Korsunska, N. O.
Khomenkova, L. Yu.
Venger, E. F.
Venger, I. V.
Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title_alt Phonon-Polariton Excitations in MgZnO/6H-SiC Structures
title_full Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title_fullStr Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title_full_unstemmed Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title_short Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
title_sort фонон-поляритонні збудження в структурах mgzno/6h-sic
topic поверхневi поляритони
IЧ-спектроскопiя
оксид цинку
оксид магнiю
MgxZn1−xO
карбiд кремнiю
-
topic_facet поверхневi поляритони
IЧ-спектроскопiя
оксид цинку
оксид магнiю
MgxZn1−xO
карбiд кремнiю
-
surface polaritons
IR spectroscopy
zinc oxide
magnesium oxide
MgxZn1−xO
silicon carbide
-
url https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019511
work_keys_str_mv AT melnichukov phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT melnichuklyu phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT korsunskano phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT khomenkovalyu phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT vengeref phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT vengeriv phononpolaritonexcitationsinmgzno6hsicstructures
AT melnichukov fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic
AT melnichuklyu fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic
AT korsunskano fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic
AT khomenkovalyu fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic
AT vengeref fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic
AT vengeriv fononpolâritonnízbudžennâvstrukturahmgzno6hsic