Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією
Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the...
Saved in:
| Date: | 2021 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Publishing house "Academperiodika"
2021
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Ukrainian Journal of Physics |
Institution
Ukrainian Journal of Physics| _version_ | 1863131354082836480 |
|---|---|
| author | Nikolaieva, D.Yu. Honcharov, V.V. Ivashin, D.Yu. Zazhigalov, V.O. |
| author_facet | Nikolaieva, D.Yu. Honcharov, V.V. Ivashin, D.Yu. Zazhigalov, V.O. |
| author_sort | Nikolaieva, D.Yu. |
| baseUrl_str | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/oai |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2021-07-06T13:51:28Z |
| description | Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the ionic implantation is presented. The problem of processing the curved surfaces with mathematical calculations and a computer simulation is solved. The proposed technique is tested on synthesized implants. The sample hardness was taken as a criterion. |
| doi_str_mv | 10.15407/ujpe66.6.511 |
| first_indexed | 2025-10-02T01:16:59Z |
| format | Article |
| id | ujp2-article-2020002 |
| institution | Ukrainian Journal of Physics |
| keywords_txt_mv | keywords |
| language | English |
| last_indexed | 2025-10-02T01:16:59Z |
| publishDate | 2021 |
| publisher | Publishing house "Academperiodika" |
| record_format | ojs |
| spelling | ujp2-article-20200022021-07-06T13:51:28Z Use of Spectroscopy and Computer Simulation to the Study of Surfaces Modified by Ionic Implantation Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією Nikolaieva, D.Yu. Honcharov, V.V. Ivashin, D.Yu. Zazhigalov, V.O. XPS energy dispersion spectrometry implant nanoscale surface modification ionic implantation computer simulation hardness спецвипуск ISSSMC XPS енергодисперсiйна спектрометрiя iмплантат нанорозмiрна модифiкацiя поверхнi iонна iмплантацiя комп’ютерне моделювання твердiсть Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the ionic implantation is presented. The problem of processing the curved surfaces with mathematical calculations and a computer simulation is solved. The proposed technique is tested on synthesized implants. The sample hardness was taken as a criterion. За допомогою рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї (X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)) та енергетично-дисперсiйної спектрометрiї дослiджено фазовi та елементарнi композицiї нанорозмiрного поверхневого шару iмплантатiв. Представлено метод визначення оптимального режиму модифiкацiї нанорозмiрних поверхонь металiв та сплавiв iонною iмплантацiєю. Розглянуто обробку криволiнiйних поверхонь на основi математичних розрахункiв та комп’ютерного моделювання. Запропонований пiдхiд випробовано на синтезованих iмплантатах. В якостi критерiю було взято твердiсть зразкiв. Publishing house "Academperiodika" 2021-07-06 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002 10.15407/ujpe66.6.511 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 66 No. 6 (2021); 511 Український фізичний журнал; Том 66 № 6 (2021); 511 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe66.6 en https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002/1829 Copyright (c) 2021 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine |
| spellingShingle | XPS енергодисперсiйна спектрометрiя iмплантат нанорозмiрна модифiкацiя поверхнi iонна iмплантацiя комп’ютерне моделювання твердiсть Nikolaieva, D.Yu. Honcharov, V.V. Ivashin, D.Yu. Zazhigalov, V.O. Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title | Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title_alt | Use of Spectroscopy and Computer Simulation to the Study of Surfaces Modified by Ionic Implantation |
| title_full | Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title_fullStr | Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title_full_unstemmed | Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title_short | Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| title_sort | використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією |
| topic | XPS енергодисперсiйна спектрометрiя iмплантат нанорозмiрна модифiкацiя поверхнi iонна iмплантацiя комп’ютерне моделювання твердiсть |
| topic_facet | XPS energy dispersion spectrometry implant nanoscale surface modification ionic implantation computer simulation hardness спецвипуск ISSSMC XPS енергодисперсiйна спектрометрiя iмплантат нанорозмiрна модифiкацiя поверхнi iонна iмплантацiя комп’ютерне моделювання твердiсть |
| url | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002 |
| work_keys_str_mv | AT nikolaievadyu useofspectroscopyandcomputersimulationtothestudyofsurfacesmodifiedbyionicimplantation AT honcharovvv useofspectroscopyandcomputersimulationtothestudyofsurfacesmodifiedbyionicimplantation AT ivashindyu useofspectroscopyandcomputersimulationtothestudyofsurfacesmodifiedbyionicimplantation AT zazhigalovvo useofspectroscopyandcomputersimulationtothestudyofsurfacesmodifiedbyionicimplantation AT nikolaievadyu vikoristannâspektroskopíítakompûternogomodelûvannâdlâvivčennâpoverhonʹmodifíkovanihíonnoûímplantacíêû AT honcharovvv vikoristannâspektroskopíítakompûternogomodelûvannâdlâvivčennâpoverhonʹmodifíkovanihíonnoûímplantacíêû AT ivashindyu vikoristannâspektroskopíítakompûternogomodelûvannâdlâvivčennâpoverhonʹmodifíkovanihíonnoûímplantacíêû AT zazhigalovvo vikoristannâspektroskopíítakompûternogomodelûvannâdlâvivčennâpoverhonʹmodifíkovanihíonnoûímplantacíêû |