Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією

• Дата: 2021
• Автори: Nikolaieva, D.Yu., Honcharov, V.V., Ivashin, D.Yu., Zazhigalov, V.O.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2021
• Теми: XPS; energy dispersion spectrometry; implant; nanoscale surface modification; ionic implantation; computer simulation; hardness; спецвипуск ISSSMC; енергодисперсiйна спектрометрiя; iмплантат; нанорозмiрна модифiкацiя поверхнi; iонна iмплантацiя; комп’ютерне моделювання; твердiсть
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the...