Використання спектроскопії та комп'ютерного моделю-вання для вивчення поверхонь, модифікованих іонною імплантацією
Using X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and energy dispersion spectrometry, the phase and elemental compositions of the nanoscale surface layer of implants are studied. The method of determination of the optimal mode of nanoscale modification of the surfaces of metals and alloys by means of the...
Gespeichert in:
| Datum: | 2021 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Publishing house "Academperiodika"
2021
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2020002 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |