Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії

• Дата: 2022
• Автори: Drapak, S.I., Gavrylyuk, S.V., Khalavka, Y.B., Fotiy, V.D., Fochuk, P.M., Fediv, O.I.
• Формат: Стаття
• Мова: English; Ukrainian
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2022
• Теми: шаруватi кристали In2Se3; мiкроструктура; включення нанокристалiтiв; композити; аналiтичнi методи рентгенiвської дифрактометрiї; layered In2Se3 crystals; microstructure; nanocrystallite inclusions; composites; analytical X-ray diffractometry methods
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021393
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

As follows from the X-ray structural analysis, In2Se3 crystals grown from the stoichiometric melt using the Bridgman method turned out inhomogeneous: some of the samples obtained from the same ingot contained only the hexagonal α-In2Se3 phase, whereas inclusions of the In6Se7 crystalline phase were...