Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії
As follows from the X-ray structural analysis, In2Se3 crystals grown from the stoichiometric melt using the Bridgman method turned out inhomogeneous: some of the samples obtained from the same ingot contained only the hexagonal α-In2Se3 phase, whereas inclusions of the In6Se7 crystalline phase were...
Збережено в:
| Дата: | 2022 |
|---|---|
| Автори: | Drapak, S.I., Gavrylyuk, S.V., Khalavka, Y.B., Fotiy, V.D., Fochuk, P.M., Fediv, O.I. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English Ukrainian |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2022
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021393 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Ukrainian Journal of Physics |
Репозитарії
Ukrainian Journal of PhysicsСхожі ресурси
-
Мiкроструктура тонких композитних плiвок Si–Sn
за авторством: Neimash, V. B., та інші
Опубліковано: (2018) -
Метод обробки даних рентгенівської дифракції для багатофазних матеріалів з низьким вмістом фаз
за авторством: Skorbun, A. D., та інші
Опубліковано: (2019) -
Структурнi дослiдження поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалiв In4Se3 методом дифракцiї повiльних електронiв
за авторством: Galiy, P. V., та інші
Опубліковано: (2018) -
Раманівське дослідження індукованих лазерним випромінюванням перетворень у термічно напилених тонких плівках TlInSe2
за авторством: Azhniuk, Y.M., та інші
Опубліковано: (2024) -
Формування нанокристалічного кремнію в плівках аморфного кремнію, легованого оловом
за авторством: Rudenko, R. M., та інші
Опубліковано: (2020)