Виготовлення тонких плівок з Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111) та CoSi2/Si(111) і оцінка їхніх оптично прямих та непрямих заборонених зон

• Дата: 2024
• Автори: Dovranov, K.T., Normuradov, M.T., Davranov, Kh.T., Bekpulatov, I.R.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2024
• Теми: iнфрачервоної Фур’є-спектроскопiя; трансмiсiйна спектроскопiя; поглинання ультрафiолетового свiтла; заборонена зона; тонкi плiвки; FTIR spectroscopy; transmission spectroscopy; UV absorption; band gap; thin films
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023088
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

Now, silicon-based heterostructured nanocomposites are of great interest. Despite the fact that silicon semiconductor films (crystalline, polycrystalline, amorphous) have been systematically studied for a long time, heterostructural films are new materials, the study of which began relatively recent...