Влияние кремниевой подложки на пробивное напряжение разветвленного n++–p+-перехода von Sidorenko, V. P., Kizyak, A. Yu., Nikolaenko, Yu. E.

Volltext

Оценка технологического процесса изготовления СБИС по стабильности элементов ее структуры von Vanteev, A. M., Korobov, A. I.

Volltext

Схемотехника СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора для элементного анализа материалов... von Sidorenko, V. P., Verbitskii, V. G., Prokofiev, Yu. V.

Volltext

СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов эле­мент­но­го ана­ли­за ма­те­риа­лов... von Sidorenko, V. P., Verbitskiy, V. G., Prokofiev, Yu. V., Kyziak, A. Yu., Nikolayenko, Yu. E.

Volltext