Показ
1 - 1
результатів із
1
для пошуку '
'
Перейти до змісту
VuFind
Ваш обліковий запис
Вихід
Логін
Мова
English
Deutsch
Українська
Всі поля
Назва
Назва журналу
Автор
Предмет
Опис
Тег
Знайти
Розширений
Видалити фільтри
Рекомендовані теми:
analytical X-ray diffractometry methods
Видалити фільтри
Показати фільтри (1)
Рекомендовані теми:
analytical X-ray diffractometry methods
Результати пошуку
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
analytical X-ray diffractometry methods
composites
1
layered In2Se3 crystals
1
microstructure
1
nanocrystallite inclusions
1
аналiтичнi методи рентгенiвської дифрактометрiї
1
включення нанокристалiтiв
1
композити
1
мiкроструктура
1
шаруватi кристали In2Se3
1
Показ
1 - 1
результатів із
1
для пошуку '
'
, час виконання запиту: 0.01сек.
Уточнити результати
Сортувати
Релевантність
Дата у спадаючому порядку
Дата у зростаючому порядку
Шифр
Автор
Назва
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Вибрати результат під номером 1
1
Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії...
за авторством
Drapak, S.I.
,
Gavrylyuk, S.V.
,
Khalavka, Y.B.
,
Fotiy, V.D.
,
Fochuk, P.M.
,
Fediv, O.I.
Опубліковано 2022
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Інструменти для пошуку:
Отримати RSS-стрічку
–
Відправити пошук е-поштою
–
Зберегти пошук
–
Розклад для Розсилок: Не застосовувати
Назад
Уточнити результати
Репозитарії
Ukrainian Journal of Physics
1
Формат
Стаття
1
Автор
Drapak, S.I.
1
Fediv, O.I.
1
Fochuk, P.M.
1
Fotiy, V.D.
1
Gavrylyuk, S.V.
1
Khalavka, Y.B.
1
Мова
English
1
Ukrainian
1
Рік публікації
від:
до: