Дослідження динамічних ВАХ Si-фотодіодів в області малих струмів за допомогою комп’ютеризованого вимірювального комплексу... von Kshevetskyi, Oleg, Dobrovolsky, Yuriy, Diachuk, Rostyslav

Volltext

Утворення дефектів на поверхні Si-підкладок в процесі термічного напилення золота von Kukurudziak, Mykola, Kukurudziak, Anastasiya

Volltext

Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током von Dobrovolskiy, Yu. G., Ashcheulov, A. A.

Volltext

Новое поколение преобразователей "ток – напряжение" для измерения фотосигналов von Butenko, V. K., Yuryev, V. G., Godovaniouk, V. M., Doctorovych, I. V., Fedotov, S. G.

Volltext