Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
- defects
- дефекти 19
- дефекты 8
- diffusion 3
- UDC 669.017.3 2
- carbide phase 2
- casting 2
- gettering 2
- image 2
- impurities 2
- kinetics 2
- optical-mathematical method 2
- photoluminescence 2
- semiconductors 2
- silicon 2
- structural heterogeneity 2
- УДК 669.017.3 2
- гетерування 2
- дифузія 2
- диффузия 2
- зображення 2
- изображение 2
- карбидная фаза 2
- карбідна фаза 2
- оптико-математический метод 2
- оптико-математичний метод 2
- структурна неоднорідність 2
- структурная неоднородность 2
- assembly 1
- stator 1
-
1
-
2
-
3
New Comprehensive Approach to Mathematical Modeling of Metallographic Images of Tool Structures
Veröffentlicht 2019Volltext
Artikel -
4
-
5
-
6
-
7
New Comprehensive Approach to Mathematical Modeling of Metallographic Images of Tool Structures
Veröffentlicht 2019Volltext
Artikel -
8
Лазер-індуковані фазові перетворення та абляція на поверхні твердих тіл (Огляд)
Veröffentlicht 2019
Volltext
Artikel -
9
ОСОБЛИВОСТІ НАПРАВЛЕННОГО РОСТУ МОНОКРИСТАЛІВ АЛМАЗУ В СИСТЕМІ Fe-Ni-Zn-C
Veröffentlicht 2023Volltext
Artikel -
10
-
11
-
12
-
13
ТЕРМОМЕТРИЧНІ МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕННЯ СТАНУ СПРЕСОВАНОСТІ ОСЕРДЯ СТАТОРА ПОТУЖНОГО ТУРБОГЕНЕРАТОРА
Veröffentlicht 2021Volltext
Artikel -
14
Електронні характеристики квантових точок СdS, що містять дефекти
Veröffentlicht 2020
Volltext
Artikel -
15
Вплив радіаційних дефектів на електрофізичні та детекторні властивості CdTe:Cl, опроміненого нейтронами...
Veröffentlicht 2020Volltext
Artikel -
16
Вплив гетерування на процес формування алюмінієвого омічного контакту
Veröffentlicht 2020Volltext
Artikel -
17
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
Veröffentlicht 2012Volltext
Artikel -
18
Арсенид-галлиевые p+–n–p+-структуры с обедняемой базовой областью
Veröffentlicht 2009Volltext
Artikel -
19
Влияние исходных дефектов на распределение механических напряжений и деформаций при окислении кремния...
Veröffentlicht 2008Volltext
Artikel -
20
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
Veröffentlicht 2008Volltext
Artikel