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Харвестер відкритої науки НАН України
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Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs...
von
Gorev, N. B.
,
Kodzhespirova, I. F.
,
Privalov, E. N.
Veröffentlicht 2010
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Institution
Technology and design in electronic equipment
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Format
Artikel
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Verfasser
Gorev, N. B.
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Kodzhespirova, I. F.
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Privalov, E. N.
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Sprache
Ukrainian
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