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Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs...
von
Gorev, N. B.
,
Kodzhespirova, I. F.
,
Privalov, E. N.
Veröffentlicht 2010
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Institution
Technology and design in electronic equipment
1
Format
Artikel
1
Verfasser
Gorev, N. B.
1
Kodzhespirova, I. F.
1
Privalov, E. N.
1
Sprache
Ukrainian
1
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Von:
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