Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
electrically active defects
электрически активные дефекты
3
silicon
2
кремний
2
MIS structure
1
Schottky diodes
1
capacity-voltage characteristic
1
electroluminescence
1
ion irradiation
1
mechanical stresses
1
mercury probe
1
photosensitivity
1
quality control
1
scanning electron microscopy
1
solar panels
1
МДП-структуры
1
вольт-фарадные характеристики
1
диоды Шоттки
1
контроль качества
1
механические напряжения
1
облучение ионами
1
растровая электронная микроскопия
1
ртутный зонд
1
солнечные батареи
1
фоточувствительность
1
электролюминесценция
1
-
1
-
2за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Y. M., Gavrilyuk, I. I., Panin, A. I.Отримати повний текст
Опубліковано 2010
Стаття -
3