Результати пошуку :: Harvester open publications of NAS Ukraine

Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку. Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.

thin films
тонкi плiвки 13
тонкі плівки 8
- 5
nanocrystals 4
tin 4
нанокристали 4
олово 4
тонкие пленки 4
metal-induced crystallization 3
silicon 3
кремнiй 3
automation 2
solar cell 2
thermal evaporation 2
vacuum deposition 2
автоматизация 2
металом iндукована кристалiзацiя 2
сонячнi елементи 2
61.72.uj 1
73.40.Vz 1
78.30.Fs 1
81.07.Bc 1
Alq3 1
Alq3оксидований рубрен 1
As–Se 1
CZTS 1
CZTS solar cells 1
CZTSе 1
CuI 1

Molecular analysis based on surface plasmon spectroscopy for different nature thin films. за авторством Kostyukevych, S. O., Khrystosenko, R. V., Kostyukevych, K. V., Koptyukh, A. A., Surovtseva, O. R., Kryuchyn, A. A.

Дослідження кристалічної структури і морфології поверхні тонких плівок PbTe та PbTe < Bi2Te3 > за авторством Tur, Y. V., Pavlovskyi, Y. V., Virt, I. S.

Вплив складу суміші компонентів золю на формування кремнійорганічних покриттів на скляних підкладках... за авторством Mosendz, A. O., Zui, M. F.

Нанесение тонких пленок в вакууме на подложки из синтетического опала за авторством Panfilov, Yu. V., Samoylovich, M. I., Bulygina, E. V.

Вплив температури на оптичні властивості тонких плівок Cu2ZnSnSe4 за авторством Maystruk, E. V., Koziarskyi, I. P., Koziarskyi, D. P., Maryanchuk, P. D.

Кріогенні термометри опору на основі плівок Ge–InP за авторством Mitin, Vadim, Kholevchuk, Volodymyr, Solovyov, Eugene, Sydnev, Alexander, Venger, Evgen

Измерение толщины покрытий в процессе их нанесения с помощью емкостного датчика за авторством Istomin, A. S., Semenov, E. I.

Система фотометрического контроля скорости травления тонких диэлектрических пленок за авторством Semyonova, S. E., Semyonov, E. I.

Поверхневий плазмонний резонанс від еліптичних наночастинок цезію, вбудованих у тонкі плівки галіду цезію... за авторством Kumar, Kuldeep, Arun, P.

Особливостi електронних процесiв у високофлюоресцентних бормiстких композитних плiвках за авторством Yashchuk, V. M., Navozenko, O. M., Slominskii, Yu. L., Grazulevicius, J. V., Kachkovsky, O. D., Naumenko, A. P.

Механiзм iндукованої оловом кристалiзацiї аморфного кремнiю за авторством Neimash, V. B., Goushcha, A. O., Shepeliavyi, P. E., Yukhymchuk, V. O., Dan’ko, V. A., Melnyk, V. V., Kuzmich, A. G.

Оптичнi та електрофiзичнi властивостi гетероструктури 95% In2O3 + 5% SnO2/ns-Si за авторством Vinichenko, V. A., Buchenko, V. V., Goloborodko, N. S., Lendel, V. V., Lushkin, A. E., Telega, V. N.

Комбiнацiйне розсiювання свiтла в процесi iндукованої оловом кристалiзацiї аморфного кремнiю за авторством Neimash, V., Dovbeshko, G., Shepelyavyi, P., Danko, V., Melnyk, V., Isaiev, M., Kuzmich, A.

Електрон-ґратковий енергообмін і гарячі електрони в острівкових металевих плівках за авторством Tomchuk, P.M., Starkov, V.N.

Роль олова у формуванні мікро- і наноструктури поверхні шаруватих плівок Si–Sn–Si за авторством Neimash, V.B., Shepelyavyi, P.E., Nikolenko, A.S., Strelchuk, V.V., Chegel, V.I., Olkhovyk, I.V., Voronov, S.O.

Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем за авторством Kosiachkin, Y., Bulavin, L.A., Kopcansky, P.

Результати пошуку

Molecular analysis based on surface plasmon spectroscopy for different nature thin films. за авторством Kostyukevych, S. O., Khrystosenko, R. V., Kostyukevych, K. V., Koptyukh, A. A., Surovtseva, O. R., Kryuchyn, A. A.

Дослідження кристалічної структури і морфології поверхні тонких плівок PbTe та PbTe &lt; Bi2Te3 &gt; за авторством Tur, Y. V., Pavlovskyi, Y. V., Virt, I. S.

Вплив складу суміші компонентів золю на формування кремнійорганічних покриттів на скляних підкладках... за авторством Mosendz, A. O., Zui, M. F.

Нанесение тонких пленок в вакууме на подложки из синтетического опала за авторством Panfilov, Yu. V., Samoylovich, M. I., Bulygina, E. V.

Вплив температури на оптичні властивості тонких плівок Cu2ZnSnSe4 за авторством Maystruk, E. V., Koziarskyi, I. P., Koziarskyi, D. P., Maryanchuk, P. D.

Кріогенні термометри опору на основі плівок Ge–InP за авторством Mitin, Vadim, Kholevchuk, Volodymyr, Solovyov, Eugene, Sydnev, Alexander, Venger, Evgen

Измерение толщины покрытий в процессе их нанесения с помощью емкостного датчика за авторством Istomin, A. S., Semenov, E. I.

Система фотометрического контроля скорости травления тонких диэлектрических пленок за авторством Semyonova, S. E., Semyonov, E. I.

Поверхневий плазмонний резонанс від еліптичних наночастинок цезію, вбудованих у тонкі плівки галіду цезію... за авторством Kumar, Kuldeep, Arun, P.

Особливостi електронних процесiв у високофлюоресцентних бормiстких композитних плiвках за авторством Yashchuk, V. M., Navozenko, O. M., Slominskii, Yu. L., Grazulevicius, J. V., Kachkovsky, O. D., Naumenko, A. P.

Механiзм iндукованої оловом кристалiзацiї аморфного кремнiю за авторством Neimash, V. B., Goushcha, A. O., Shepeliavyi, P. E., Yukhymchuk, V. O., Dan’ko, V. A., Melnyk, V. V., Kuzmich, A. G.

Оптичнi та електрофiзичнi властивостi гетероструктури 95% In2O3 + 5% SnO2/ns-Si за авторством Vinichenko, V. A., Buchenko, V. V., Goloborodko, N. S., Lendel, V. V., Lushkin, A. E., Telega, V. N.

Комбiнацiйне розсiювання свiтла в процесi iндукованої оловом кристалiзацiї аморфного кремнiю за авторством Neimash, V., Dovbeshko, G., Shepelyavyi, P., Danko, V., Melnyk, V., Isaiev, M., Kuzmich, A.

Електрон-ґратковий енергообмін і гарячі електрони в острівкових металевих плівках за авторством Tomchuk, P.M., Starkov, V.N.

Роль олова у формуванні мікро- і наноструктури поверхні шаруватих плівок Si–Sn–Si за авторством Neimash, V.B., Shepelyavyi, P.E., Nikolenko, A.S., Strelchuk, V.V., Chegel, V.I., Olkhovyk, I.V., Voronov, S.O.

Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем за авторством Kosiachkin, Y., Bulavin, L.A., Kopcansky, P.

Інструменти для пошуку:

Уточнити результати

Репозитарії

Формат

Автор

Мова

Рік публікації

Дослідження кристалічної структури і морфології поверхні тонких плівок PbTe та PbTe < Bi2Te3 > за авторством Tur, Y. V., Pavlovskyi, Y. V., Virt, I. S.