Шахтный портативный анализатор «ШАИ-8» для измерения и анализа сигналов естественного импульсного электромагнитного поля в горных выработках... von Тиркель, М.Г., Туманов, В.В., Архипенко, А.И., Хлюстов, Н.В., Савченко, А.В., Молошникова, Н.Б.

Volltext

Розробка керамічного термоміцного та корозійностійкого матеріалу для виготовлення жарової труби для пальників котлів теплових електростанцій... von Григорьєв, О.М., Скороход, В.В., Панасюк, А.Д., Котенко, В.А., Личко, В.В., Коротєєв, О.В., Прилуцький, Е.В., Лавренко, В.О., Іконнік, М.М.

Volltext

Організація виробництва великогабаритних пластмасових сцинтиляторів для фізичних експериментів... von Жмурін, П.М., Бояринцев, А.Ю., Клубань, М.О., Мірошниченко, Л.О., Федоров, С.М.

Volltext

Комп’ютеризована система для відбору та обробки сигналів магнітопружної акустичної емісії von Почапський, Є.П.

Volltext

Формування української політичної нації von Палій, Г.

Volltext

Розробка та виготовлення універсального пересувного комплексу устаткування для захисту металоконструкцій від корозії... von Генега, Б.Я., Федірко, В.М., Волошин, М.П., Пічугін, А.Т., Лук’яненко, О.Г.

Volltext

Економіко-правовий аналіз регулювання відносин у сфері службового винахідництва von Андрощук, Г.О.

Volltext

Наші автори

Volltext

Правила для авторів

Volltext

Instructions for Authors

Volltext

Передплата

Volltext

І спокій тільки сниться! von Картунов, О., Маруховська, О.

Volltext

Титульна сторінка та зміст

Volltext

Міжнародний інноваційний форум країн СНД – 2011

Volltext

Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах... von Лисенко, О.Г.

Volltext

Изготовление микро- и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития... von Сторижко, В.Е., Мирошниченко, В.И., Пономарев, А.Г.

Volltext

Сканирующий ионный гелиевый микроскоп von Петров, Ю.В.

Volltext

Position Sensitive Micro-Strip and Micro-Pixel Detectors von Pugatch, V.M.

Volltext

Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™ von Чапон, П., Костенко, О.К.

Volltext

Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого von Держипольский, А.Г., Меленевский, Д.А.

Volltext