Showing
1 - 1
results of
1
for search '
"interference method of thickness control"
'
Skip to content
VuFind
Your Account
Log Out
Login
Language
English
Deutsch
Українська
Open Science Harvester of NAS of Ukraine
All Fields
Title
Journal Title
Author
Subject
Description
Tag
Full text
Find
Advanced
Search Results - "interference method of thickness control"
Suggested Topics within your search.
Suggested Topics within your search.
automation of chemical etching processes
1
chalcogenide amorphous films
1
interference methods of thickness control
1
photoresists
1
автоматизація процесів хімічного травлення
1
фоторезисти
1
халькогенідні аморфні плівки
1
інтерференційні методи контролю товщини
1
Showing
1 - 1
results of
1
for search '
"interference method of thickness control"
'
, query time: 0.01s
Refine Results
Sort
Relevance
Date Descending
Date Ascending
Call Number
Author
Title
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Select result number 1
1
Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching
by
Іваницький, В. П.
,
Рубіш, В. М.
,
Тарнай, А. А.
,
Чичура, І. І.
,
Рубіш, В. В.
,
Далекорей, А. В.
,
Мешко, Р. О.
,
Рябощук, М. М.
,
Цигика, В. В.
Published 2024
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Search Tools:
RSS Feed
–
Email Search
–
Save Search
Back
Refine Results
Institution
Data Recording, Storage & Processing
1
Format
Article
1
Author
Іваницький, В. П
1
Далекорей, А. В
1
Мешко, Р. О
1
Рубіш, В. В
1
Рубіш, В. М
1
Рябощук, М. М
1
Тарнай, А. А
1
Цигика, В. В
1
Чичура, І. І
1
see all…
Language
Ukrainian
1
Year of Publication
From:
To: