Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P.

Отримати повний текст

Мировые тенденции развития микроэлектроники и место Республики Беларусь в этом процессе за авторством Belous, A. I., Pilipenko, V. A., Turtsevich, A. S., Shvedov, S. V.

Отримати повний текст

Обзор результатов работ по развитию конкурентоспособных направлений микроэлектроники выполненных в 2007—2009 гг. в рамках Государственной программы... за авторством Padalko, V. G., Nikolaenko, Yu. E., Vysotskyj, O. M., Kontchyts, N. W.

Отримати повний текст

Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием за авторством Novosyadlyi, S. P., Vivcharuk, V. M.

Отримати повний текст

Методы и средства компьютерного проектирования в сети Интернет за авторством Baranov, V. V., Breczko, T., Najbuk, M. N., Nelaev, V. V., Stempitski, V. R.

Отримати повний текст

AN ANTHOLOGY OF THE DISTINGUISHED ACHIEVEMENTS IN SCIENCE AND TECHNIQUE. PART 42: ELECTRONICS: RETROSPECTIVE VIEW, SUCCESSES AND PROSPECTS OF ITS DEVELOPMENT за авторством Baranov, M. I.

Отримати повний текст

MILITARY AND POLITICAL ASPECTS OF ONE OF THE PROBLEMS OF THE MODERN POWER INDUSTRY за авторством Gurevich, Vladimir I.

Отримати повний текст

Методы и механизмы геттерирования кремниевых структур в производстве интегральных микросхем за авторством Pilipenko, V. A., Gorushko, V. A., Petlitskiy, A. N., Ponaryadov, V. V., Turtsevich, A. S., Shvedov, S. V.

Отримати повний текст

Некоторые особенности фотоэлектрических характеристик двухбазовой Ag–N⁰Al₀.₂Ga₀.₈As–n⁺GaAs–n⁰Ga₀.₉In₀.₁As–Au-структуры... за авторством Yodgorova, D. M., Karimov, A. V., Giyasova, F. A., Saidova, R. A., Giyasova, F. A.

Отримати повний текст

Квантовое ограничение закона Мура за авторством Powell, J. R.

Отримати повний текст

WAYS TO REDUCE ERRORS IN MEASURING THE DIELECTRIC CONSTANT OF WEAKLY ABSORBING DIELECTRICS IN THE MILLIMETER AND SUBMILLIMETER (TERAHERTZ) WAVELENGTH RANGES BY THE SURFACE PLASMON... за авторством Gavrikov, V. K., Lytvynenko, L. M., Myshenko, V. V., Polikarpov, O. V., Korolev, A. M., Chechotkin, D. L., Spevak, I. S.

Отримати повний текст

THE METHOD OF DETERMINING THE DIELECTRIC RELATIVE PERMITTIVITY IN THE MM AND SUBMM WAVELENGTH RANGES BASED ON THE MEASURING OF THE PLASMON-POLARITONE RESONANCE PARAMETERS за авторством Lytvynenko, L. N., Myshenko, V. V., Bortsov, V. V., Lisachenko, V. M., Polikarpov, O. V., Gavrikov, V. K., Spevak, I. S.

Отримати повний текст