Вступление за авторством Окулов, В.И.

Отримати повний текст

Отсутствие перехода Андерсона в высокорезистивных сплавах с большой электронной плотностью за авторством Гантмахер, В.Ф.

Отримати повний текст

Электронные интерферометры в режиме квантового эффекта Холла за авторством Девятов, Э.В.

Отримати повний текст

On a correlation between EPR data for SASeD doped with Cr³⁺ and soft modes за авторством Lipinski, I.E., Kuriata, J., Korynevskii, N.A.

Отримати повний текст

EPR and dielectric spectroscopy of reorienting Cr³⁺-Li⁺ pair centres in Li₂Ge₇O₁₅ crystal за авторством Volnianskii, M.D., Trubitsyn, M.P., Obaidat, Yahia A.H.

Отримати повний текст

Phase transitions in KDP crystals with the complex organic and inorganic impurities за авторством Strukov, B., Shnaidshtein, I., Grabovsky, S

Отримати повний текст

Мезоскопические состояния в графене, находящемся в магнитном поле: коллапс и возрождение волновых пакетов... за авторством Демиховский, В.Я., Тележников, А.В., Фролова, Е.В., Кравец, Н.А.

Отримати повний текст

Atomic defects and physical-chemical properties of PbTe-InTe solid solutions за авторством Freik, D.M., Boychuk, V.I., Mezhylovsjka, L.I.

Отримати повний текст

Mechanisms of forward current transport in p-GaSe-n-InSe heterojunctions за авторством Kovalyuk, Z.D., Makhniy, V.P., Yanchuk, O.I.

Отримати повний текст

Unipolar injection currents in Bi₄Ge₃O₁₂ crystals за авторством Bochkova, T.M., Plyaka, S.N., Sokolyanskii, G.Ch.

Отримати повний текст

Polymer films as sensitive coatings for quartz crystal microbalance sensors array за авторством Koshets, I.A., Kazantseva, Z.I., Shirshov, Yu.M.

Отримати повний текст

Modeling high performance multilayer antireflection coatings for visible and infrared (3-5μm) substrates за авторством Asghar, M.H., Khan, M.B., Naseem, S.

Отримати повний текст

Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Distortion compensation technique for high resolution microscopy за авторством Borovytsky, V.N.

Отримати повний текст

Stress-induced effects in light scattering by plasmons in p-type germanium за авторством Poroshin, V.N., Gaydar, A.V., Abramov, A.A., Tulupenko, V.N.

Отримати повний текст

Classification of microdefects in semiconducting silicon за авторством Talanin, V.I., Talanin, I.E.

Отримати повний текст

Metastable interstitials in CdSe and CdS crystals за авторством Borkovska, L.V., Bulakh, B.M., Khomenkova, L.Yu., Korsunska, N.O., Markevich, I.V.

Отримати повний текст

On the origin of 300 K near-band-edge luminescence in CdTe за авторством Glinchuk, K.D., Litovchenko, N.M., Strilchuk, O.N.

Отримати повний текст

High-temperature injection spectroscopy of deep traps in CdTe polycrystalline films за авторством Opanasyuk, A.S., Opanasyuk, N.N., Tirkusova, N.V.

Отримати повний текст

Acoustoelectric transient spectroscopy of microwave treated GaAs-based structures за авторством Olikh, O.Ya.

Отримати повний текст