Singular analysis of Jones-matrix images describing polycrystalline networks of biological crystals in diagnostics of cholelithiasis in its latent period за авторством V. O. Balanetska, Yu. Marchuk, A. V. Karachevtsev, V. O. Ushenko

Отримати повний текст

Probing plasmonic system by the simultaneous measurement of Raman and fluorescence signals of dye molecules за авторством M. M. Dvoynenko, Z. I. Kazantseva, V. V. Strelchuk, O. F. Kolomys, E. G. Bortshagovsky, E. F. Venger

Отримати повний текст

Chemical-dynamic polishing of semiconductor materials based on Bi and Sb chalcogenides by using HNO3-HCl solutions за авторством I. I. Pavlovich, Z. F. Tomashik, I. B. Stratiychuk, V. M. Tomashik, O. A. Savchuk, A. S. Kravtsova

Отримати повний текст

Constants of Asademician V. M. Rusanivskyi's scientific style за авторством S. Yermolenko

Отримати повний текст

Impact of sidewall spacer on gate leakage behavior of nano-scale MOSFETs за авторством A. K. Rana, N. Chand, V. Kapoor

Отримати повний текст

Effect of microwave radiation on optical characteristics of thin gold films за авторством P. M. Boltovets

Отримати повний текст

The kinetic of point defect transformation during the annealing process in electron-irradiated silicon за авторством G. P. Gaidar, A. P. Dolgolenko, P. G. Litovchenko

Отримати повний текст

Information processing in an optoelectronic display system за авторством A. V. Bushma

Отримати повний текст

Wavelet analysis of Jones-matrix images corresponding to polycrystalline networks of biological crystals in diagnostics of tuberculosis за авторством N. I. Zabolotna, V. O. Balanetska, Yu. Telenga, V. O. Ushenko

Отримати повний текст

Photoemission study of the electronic structure of praseodymium filled skutterudite PrOs4Sb12) за авторством J. O. Akinlami, A. M. Awobode

Отримати повний текст

Electrical properties of MIS structures with silicon nanoclusters за авторством S. V. Bunak, V. V. Ilchenko, V. P. Melnik, I. M. Hatsevych, B. N. Romanyuk, A. G. Shkavro, O. V. Tretyak

Отримати повний текст

Structural properties of nanocomposite SiO2(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing за авторством O. L. Bratus, A. A. Evtukh, O. S. Lytvyn, M. V. Voitovych, V. O. Yukhymchuk

Отримати повний текст

Dielectric and electro-optical properties of solutions of chemically modified fullerene S60 in nematic liquid crystal за авторством V. E. Vovk, O. V. Kovalchuk, M. P. Gorishnyj, T. M. Kovalchuk

Отримати повний текст

Diluted magnetic layered semiconductor InSe:Mn with high Curie temperature за авторством G. V. Lashkarev, V. I. Sichkovskyi, M. V. Radchenko, P. Aleshkevych, O. I. Dmitriev, P. E. Butorin, Z. D. Kovalyuk, R. Szymczak, A. Ślawska-Waniewska, N. Nedelko, R. Yakiela, A. M. Balagurov, A. I. Beskrovnyy, W. Dobrowolski

Отримати повний текст

Evaluative-and-cognitive aspect of the diary linguistic picture of the world за авторством I. Syrko

Отримати повний текст

Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers за авторством O. S. Oberemok, V. G. Litovchenko, D. V. Gamov, V. G. Popov, V. P. Melnik, Yo. Gudymenko, V. A. Nikirin, I. M. Khatsevich

Отримати повний текст

Polarization conversion effect in obliquely deposited SiOx films за авторством M. V. Sopinskyy, I. Z. Indutnyi, K. V. Michailovska, P. E. Shepeliavy, V. M. Tkach

Отримати повний текст

Optical absorption edge and luminescence in phosphorous-implanted Cu6PS5X (X = I, Br) single crystals за авторством I. P. Studenyak, Yu. Izai, V. O. Stephanovich, V. V. Panko, P. Kúš, A. Plecenik, M. Zahoran, J. Gregus, T. Roch

Отримати повний текст

Changes in Hall parameters after -irradiation (60So) of n-Ge за авторством G. P. Gaidar

Отримати повний текст

Anti-reflection coatings based on SnO2, SiO2, Si3N4 films for photodiodes operating in ultraviolet and visible spectral ranges за авторством Yu. G. Dobrovolskiy, V. L. Perevertailo, B. G. Shabashkevich

Отримати повний текст