Результати пошуку - "Peer review" :: Harvester open publications of NAS Ukraine

Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку. Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.

- 927
90
silicon 38
температура 37
temperature 34
sensor 31
thin films 26
20M10 25
621.3.022 25
magnetic field 25
electrical conductivity 24
heat pipe 24
sustainable development 24
efficiency 23
management 23
інновації 23
20D10 22
Ukraine 22
phase transition 22
05C25 21
20M20 21
innovation 21
mathematical model 21
Україна 21
сталий розвиток 21
621.319 20
diffusion 20
semigroup 20
моделирование 20
Raman spectroscopy 19

Особенности реализации микрополосковых фильтров с кольцевыми резонаторами бегущей волны за авторством Glushechenko, E. N.

Светодиодные показывающие электроизмерительные устройства на многопороговых компараторах за авторством Oborskii, G. A., Koval’kov, V. I., Tikhenko, V. N., Slobodyanik, P. T.

Формализованные показатели для оценки качества радиотехнических систем охраны периметров объектов... за авторством Kolesnik, K. V., Kipenskii, A. V., Machekhin, Yu. P., Churyumov, G. I.

Прогноз диэлектрических потерь в стеклокерамике для разных соотношений массовых долей компонентов... за авторством Dmitriev, M. V., Yerimichoy, I. N., Panov, L. I.

Метод оценки качества тонкопленочной платы за авторством Spirin, V. G

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si» за авторством Kulinich, О. А., Yatsunskiy, I. P., Eshtokina, T. Yu., Brusenskaya, G. I., Marchuk, I. A.

Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов за авторством Shevchik-Shekera, A. V.

Импедансный анализатор для идентификации марок водно-спиртовых напитков за авторством Eliyashiv, O. M., Galyuk, S. D., Politanskii, L. F., Kushnir, N. Ya., Tanasyuk, V. S.

Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения за авторством Perevertailo, V. L.

Микрополосковые электромагнитные кристаллы с низкоимпедансными неоднородностями за авторством Nazarko, A. I.

Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов за авторством Nevlyudov, Nevlyudov I. Sh., Martynyak, R. M., Palagin, V. A., Slobodyan, B. S., Razumov-Frizyuk, E. A., Zharikova, I. V., Dmytriv, M. I., Belyaev, A. S.

Низкоразмерные кристаллы кремния для фотоэлектрических преобразователей за авторством Druzhinin, A. A., Ostrovskii, I. P., Khoverko, Yu. N., Nichkalo, S. I., Berezhanskii, Ye. I.

Межслоевые примесные нанокомпозиты поверхности (0001) кристалла Bi2Te3, легированного цинком и селеном... за авторством Alieva, A. P., Aleskerov, F. K., Kahramanov, S. Sh.

Высокочувствительная установка для оценки изменения показателя преломления водных растворов за авторством Podkamen, L. I., Gavrylyak, M. S.

Зависимость диэлектрической проницаемости кристаллизующейся фазы стеклокерамики от времени спекания... за авторством Dmitriyev, M. V., Yerimichoy, I. N., Panov, L. I.

Уменьшение влияния пиротехнических зарядов на работу измерительных усилителей за авторством Startsev, V. I., Yampolsky, Ju. S., Kutsenko, A. P.

Специализированное устройство электропитания за авторством Gunchenko, Yu. A., Banzak, O. V., Selukov, A. V., Kutashev, V. I.

Радиоволновое охранное устройство на излучающем кабеле за авторством Prudyus, I. N., Prots’, R. V., Storozh, V. G.

Результати пошуку - "Peer review"

Особенности реализации микрополосковых фильтров с кольцевыми резонаторами бегущей волны за авторством Glushechenko, E. N.

Светодиодные показывающие электроизмерительные устройства на многопороговых компараторах за авторством Oborskii, G. A., Koval’kov, V. I., Tikhenko, V. N., Slobodyanik, P. T.

Формализованные показатели для оценки качества радиотехнических систем охраны периметров объектов... за авторством Kolesnik, K. V., Kipenskii, A. V., Machekhin, Yu. P., Churyumov, G. I.

Прогноз диэлектрических потерь в стеклокерамике для разных соотношений массовых долей компонентов... за авторством Dmitriev, M. V., Yerimichoy, I. N., Panov, L. I.

Метод оценки качества тонкопленочной платы за авторством Spirin, V. G

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раз­де­ла «SiO2–Si» за авторством Kulinich, О. А., Yatsunskiy, I. P., Eshtokina, T. Yu., Brusenskaya, G. I., Marchuk, I. A.

Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов за авторством Shevchik-Shekera, A. V.

Импедансный анализатор для идентификации марок водно-спиртовых напитков за авторством Eliyashiv, O. M., Galyuk, S. D., Politanskii, L. F., Kushnir, N. Ya., Tanasyuk, V. S.

Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения за авторством Perevertailo, V. L.

Микрополосковые электромагнитные кристаллы с низкоимпедансными не­од­но­род­нос­тя­ми за авторством Nazarko, A. I.

Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов за авторством Nevlyudov, Nevlyudov I. Sh., Martynyak, R. M., Palagin, V. A., Slobodyan, B. S., Razumov-Frizyuk, E. A., Zharikova, I. V., Dmytriv, M. I., Belyaev, A. S.

Низкоразмерные кристаллы кремния для фотоэлектрических преобразователей за авторством Druzhinin, A. A., Ostrovskii, I. P., Khoverko, Yu. N., Nichkalo, S. I., Berezhanskii, Ye. I.

Межслоевые примесные нанокомпозиты поверхности (0001) кристалла Bi2Te3, легированного цинком и селеном... за авторством Alieva, A. P., Aleskerov, F. K., Kahramanov, S. Sh.

Высокочувствительная установка для оценки изменения показателя преломления водных растворов за авторством Podkamen, L. I., Gavrylyak, M. S.

Зависимость диэлектрической проницаемости кристаллизующейся фазы стеклокерамики от времени спекания... за авторством Dmitriyev, M. V., Yerimichoy, I. N., Panov, L. I.

Уменьшение влияния пиротехнических зарядов на работу измерительных усилителей за авторством Startsev, V. I., Yampolsky, Ju. S., Kutsenko, A. P.

Специализированное устройство электропитания за авторством Gunchenko, Yu. A., Banzak, O. V., Selukov, A. V., Kutashev, V. I.

Радиоволновое охранное устройство на излучающем кабеле за авторством Prudyus, I. N., Prots’, R. V., Storozh, V. G.

Інструменти для пошуку:

Уточнити результати

Репозитарії

Формат

Автор

Мова

Рік публікації

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si» за авторством Kulinich, О. А., Yatsunskiy, I. P., Eshtokina, T. Yu., Brusenskaya, G. I., Marchuk, I. A.

Микрополосковые электромагнитные кристаллы с низкоимпедансными неоднородностями за авторством Nazarko, A. I.