-
121
-
122
-
123
-
124
-
125
-
126
-
127
-
128
-
129
-
130
-
131
-
132Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layerза авторством A. V. Sachenko, V. P. Kostylev, V. G. Litovchenko, V. G. Popov, B. M. Romanyuk, V. V. Chernenko, V. M. Naseka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. KomarovОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
133
-
134
-
135
-
136
-
137
-
138
-
139за авторством L. A. Bulavin, G. M. Verbinska, D. A. Gavryushenko, V. M. Sysoev, O. S. Solovyov, K. V. CherevkoОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
140