Suchergebnisse - "embedded system tests"
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
- UDC 517.9:621.325.5:621.382.049.77 1
- bandwidth 1
- convolutional neural network 1
- deep learning 1
- distributed information processing 1
- embedded system tests 1
- hardware accelerators 1
- spectrum 1
- tensor processing 1
- terahertz range 1
- УДК 517.9:621.325.5:621.382.049.77 1
- апаратні прискорювачі 1
- вбудовані системні тести 1
- глибоке навчання 1
- загорткова нейронна мережа 1
- пропускна здатність 1
- розподілена обробка інформації 1
- спектр 1
- тензорна обробка 1
- терагерцовий діапазон 1
-
1
Machine vision systems for detection of fast-moving objects in low visibility conditions
Veröffentlicht 2024Volltext
Artikel