Mueller-matrix diagnostics of optical properties inherent to polycrystalline networks of human blood plasma за авторством Yu. A. Ushenko, O. I. Olar, A. V. Dubolazov, V. O. Balanetskaya, V. P. Unguryan, N. I. Zabolotna, B. P. Oleinichenko

Отримати повний текст

Sheet resistance and surface topology time dynamics of intrinsic oxide film on InSe crystals за авторством V. M. Katerynchuk, Z. D. Kovalyuk

Отримати повний текст

Study of nanoporous in humidity-sensitive MgAl2O4 ceramics with positron annihilation lifetime spectroscopy за авторством H. Klym

Отримати повний текст

Comparative analysis of response modes for gold nanoparticle biosensor based on localized surface plasmon resonance за авторством A. Lopatynskyi, O. Lopatynska, V. Chegel

Отримати повний текст

Thin films CdS/CdTe solar cells with different activation processes base layer за авторством G. S. Khrypunov, T. N. Shelest, T. N. Li, A. V. Meriuts, N. A. Kovtun, A. V. Makarov, L. V. Avksentyeva

Отримати повний текст

Effect of low-temperature annealing on light-emitting properties of na-Si/SiOx porous nanocomposite films за авторством I. P. Lisovskyy, V. G. Litovchenko, S. O. Zlobin, M. V. Voitovych, I. M. Khatsevich, I. Z. Indutnyy, P. E. Shepeliavyi, O. F. Kolomys

Отримати повний текст

Features of a shock wave in CdTe by pulsed laser irradiation за авторством B. K. Dauletmuratov

Отримати повний текст

Dynamic properties and avalanche noise analysis of 4H-SiC over wz-GaN based IMPATTs at mm-wave window frequency за авторством P. R. Tripathy, M. Mukherjee, S. P. Pati

Отримати повний текст

Optimal solution in producing 32nm CMOS technology transistor with desired leakage current за авторством H. A. lgomati, I. Ahmad, F. Salehuddin, F. A. Hamid, A. Zaharim, B. Y. Majlis, P. R. Apte

Отримати повний текст

Role of Sb additive in the dielectric properties of Se90In10 and Se75In25 glassy alloys за авторством J. Sharma, S. Kumar

Отримати повний текст

Structural and optical characteristics of ZnSe and CdSe films condensed on non-oriented substrates за авторством M. M. Ivashchenko, A. S. Opanasyuk, N. M. Opanasyuk, S. M. Danilchenko, V. V. Starikov

Отримати повний текст

The electric field gradient asymmetry parameter in InSe за авторством Z. D. Kovalyuk, A. G. Khandozhko, G. I. Lastivka, A. P. Samila

Отримати повний текст

Photo-thermo-acoustic analysis of heterogeneous semiconductor structures under pulse laser irradiation за авторством R. Burbelo, M. Isaiev, A. Kuzmich

Отримати повний текст

Charge transport in bismuth orthogermanate crystals за авторством T. M. Bochkova, S. N. Plyaka

Отримати повний текст

Influence of polarization of free-electron system in semiconductor on the position of minimum in plasma light reflection за авторством V. S. Severin

Отримати повний текст

Influence of Ca2+ ions on the habit of KDP crystals за авторством S. Javidi, R. Enayati, M. Iraj, N. Aliakbari

Отримати повний текст

Influence of electron-electron drag on piezoresistance of n-Si за авторством I. I. Boiko

Отримати повний текст

Singular analysis of Jones-matrix images describing polycrystalline networks of biological crystals in diagnostics of cholelithiasis in its latent period за авторством V. O. Balanetska, Yu. Marchuk, A. V. Karachevtsev, V. O. Ushenko

Отримати повний текст

Probing plasmonic system by the simultaneous measurement of Raman and fluorescence signals of dye molecules за авторством M. M. Dvoynenko, Z. I. Kazantseva, V. V. Strelchuk, O. F. Kolomys, E. G. Bortshagovsky, E. F. Venger

Отримати повний текст

Chemical-dynamic polishing of semiconductor materials based on Bi and Sb chalcogenides by using HNO3-HCl solutions за авторством I. I. Pavlovich, Z. F. Tomashik, I. B. Stratiychuk, V. M. Tomashik, O. A. Savchuk, A. S. Kravtsova

Отримати повний текст